[发明专利]一种高折射率差YAG单晶异质结构薄膜波导及其制备方法在审
申请号: | 202010089291.1 | 申请日: | 2020-02-12 |
公开(公告)号: | CN111257995A | 公开(公告)日: | 2020-06-09 |
发明(设计)人: | 项炳锡;阮双琛;柴广跃;马钰洁;王萌 | 申请(专利权)人: | 深圳技术大学 |
主分类号: | G02B6/122 | 分类号: | G02B6/122;G02B6/13;G02B6/132;G02B6/134;C23C16/40;C23C16/50;C23C28/00;C30B33/06;C30B29/28 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 李素兰 |
地址: | 518118 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 折射率 yag 单晶异质 结构 薄膜 波导 及其 制备 方法 | ||
1.一种高折射率差YAG单晶异质结构薄膜波导,包括有He离子注入的YAG晶体(1)和YAG晶体衬底(2),其特征在于,在所述He离子注入的YAG晶体(1)的注入面之下依次具有SiO2薄膜(3)、第一钛沉积层(41)、第一铜沉积层(51);所述衬底YAG晶体表面之上依次具有第二钛沉积层(42)、第二铜沉积层(52),所述第一铜沉积层(51)和所述第二铜沉积层(52)之间具有Cu-Sn键合层(7)。
2.一种高折射率差YAG单晶异质结构薄膜波导及其制备方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
步骤1、采用111切向YAG晶体材料(8)作为样品,通过注入过程将能量为200keV、剂量为8×1016ions/cm2的He离子注入样品的表面;
步骤2、对有He离子注入的YAG晶体进行标准RCA配方清洗后,在注入面采用等离子体增强化学气相沉积方法制备一层厚度1.6微米的SiO2薄膜,沉积条件包括沉积环境温度为250℃、沉积时间为60min;
步骤3、分别在有He离子注入的YAG晶体的注入面和YAG晶体衬底的表面进行沉积,依次得到厚度为100nm、5μm和1μm的钛沉积层、铜沉积层和锡薄膜沉积层;
步骤4、将有He离子注入的YAG晶体和YAG晶体衬底贴合在一起并加热到270℃保持10min,确保有He离子注入的YAG晶体和YAG晶体衬底通过Cu-Sn键合的方式结合到一起,Cu-Sn键合条件包括键合环境温度为270℃、键合时间为10min;
步骤5、完成键合的样品在退火炉中加热到600℃并保持2h,退火完成后,将YAG薄膜完整地从YAG晶体材料上剥离下来。
3.如权利要求2所述的一种高折射率差YAG单晶异质结构薄膜波导制备方法,其特征在于,所述步骤1的注入过程中,离子束方向与样品表面法线方向成7°角,注入离子的束流小于1μA/cm2。
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