[发明专利]一种数据存储系统及管理方法

说明书

本申请提供一种数据存储系统及管理方法，该系统包括：检测模块、标记模块、存储模块和显示模块，检测模块用于检测存储介质的坏块情况和存储介质的剩余寿命，标记模块用于根据存储介质的坏块情况，标记存储模块中的坏块，存储模块用于在存储介质未被标记为坏块的存储区中实现待存储数据块的循环存储，显示模块，用于显示存储介质的剩余寿命。解决了现有技术中的嵌入式系统中的关键数据无法安全存储的技术问题，提高了数据存储系统的安全性，同时提高了所读取的数据的可信度。

技术领域

本申请涉及嵌入式软件技术领域，尤其涉及一种数据存储系统及管理方法。

背景技术

在嵌入式系统中，很多产品都使用电可擦可编程只读存储器(electricallyerasable programmable read-only memory，简称：EEPROM)和闪存(flash memory，简称：Flash)等非易失存储器进行数据的存储。其中，系统运行的同时数据也在不断进行更新，并周期性地保存至非易失存储器中，为下次系统上电运行提供数据依据。

然而，若数据中的关键数据发生异常，则会导致系统运行异常或者系统功能失效。在现有技术中，通过为每个数据单元维护校验值，并根据校验值判断待读取数据是否为有效数据，从而排除异常数据。

但是，目前的现有技术仍然会发生关键数据异常等现象，无法保证嵌入式系统中关键数据的安全存储。

发明内容

本申请提供一种数据存储系统及管理方法，以解决现有技术中的嵌入式系统中的关键数据无法安全存储的技术问题。

本申请第一个方面提供一种数据存储系统，包括：检测模块、标记模块、存储模块和显示模块；

所述检测模块，用于检测存储介质的坏块情况和所述存储介质的剩余寿命；

所述标记模块，用于根据所述存储介质的坏块情况，标记所述存储模块中的坏块；

所述存储模块，用于在所述存储介质未被标记为坏块的存储区中实现待存储数据块的循环存储；其中，所述存储介质包括多个存储扇区，所述循环存储为：在当前写入数据的存储扇区写满时，擦除另一个存储扇区的数据，并在所述另一个存储扇区中写入数据，所述另一个存储扇区为：所述多个存储扇区中不同于所述当前写入数据的存储扇区的另一个存储扇区；

所述显示模块，用于显示所述存储介质的剩余寿命。

可选地，所述检测模块具体用于：

对于所述存储介质的任一个存储空间，在所述任一个存储空间经过预设次数连续的数据写入和读出中，若全部检测为校验错误，确定所述任一个存储空间为坏块。

可选地，所述剩余寿命包括剩余擦写次数百分比；所述检测模块具体还用于：

根据所述存储介质的擦写寿命和所述存储介质的存储空间的已擦写次数，计算所述剩余擦写次数百分比。

可选地，所述剩余寿命包括剩余使用时间；所述检测模块具体还用于：

根据所述存储介质的擦写寿命、所述存储介质的存储空间的已擦写次数和所述存储介质每天存储数据次数，计算所述剩余使用时间。

可选地，所述检测模块具体用于检测所述存储介质的使用寿命是否满足质保要求；在所述存储介质的使用寿命满足所述质保要求的情况下，检测所述存储介质的坏块情况和所述存储介质的剩余寿命。

可选地，所述检测模块具体用于根据所述存储介质的质保寿命、所述存储介质每天存储数据次数、所述存储介质擦写寿命和所述待存储数据块的大小，确定所述数据存储系统所需最小存储空间；

在所述数据存储系统所需最小存储空间大于或等于所述存储介质的存储空间的情况下，确定所述存储介质的使用寿命满足所述质保要求；