[发明专利]一种数据存储系统及管理方法在审
申请号: | 202010082829.6 | 申请日: | 2020-02-07 |
公开(公告)号: | CN111309513A | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 王海龙 | 申请(专利权)人: | 北京海博思创科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10;G06F11/07;G06F3/06 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 张娜;刘芳 |
地址: | 100083 北京市海淀区清华东路*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 数据 存储系统 管理 方法 | ||
1.一种数据存储系统,其特征在于,所述数据存储系统包括:检测模块、标记模块、存储模块和显示模块;
所述检测模块,用于检测存储介质的坏块情况和所述存储介质的剩余寿命;
所述标记模块,用于根据所述存储介质的坏块情况,标记所述存储模块中的坏块;
所述存储模块,用于在所述存储介质未被标记为坏块的存储区中实现待存储数据块的循环存储;其中,所述存储介质包括多个存储扇区,所述循环存储为:在当前写入数据的存储扇区写满时,擦除另一个存储扇区的数据,并在所述另一个存储扇区中写入数据,所述另一个存储扇区为:所述多个存储扇区中不同于所述当前写入数据的存储扇区的另一个存储扇区;
所述显示模块,用于显示所述存储介质的剩余寿命。
2.根据权利要求1所述的数据存储系统,其特征在于,所述检测模块具体用于:
对于所述存储介质的任一个存储空间,在所述任一个存储空间经过预设次数连续的数据写入和读出中,若全部检测为校验错误,确定所述任一个存储空间为坏块。
3.根据权利要求1所述的数据存储系统,其特征在于,所述剩余寿命包括剩余擦写次数百分比;所述检测模块具体还用于:
根据所述存储介质的擦写寿命和所述存储介质的存储空间的已擦写次数,计算所述剩余擦写次数百分比。
4.根据权利要求1-3任一项所述的数据存储系统,其特征在于,所述剩余寿命包括剩余使用时间;所述检测模块具体还用于:
根据所述存储介质的擦写寿命、所述存储介质的存储空间的已擦写次数和所述存储介质每天存储数据次数,计算所述剩余使用时间。
5.根据权利要求1所述的数据存储系统,其特征在于,所述检测模块具体用于检测所述存储介质的使用寿命是否满足质保要求;在所述存储介质的使用寿命满足所述质保要求的情况下,检测所述存储介质的坏块情况和所述存储介质的剩余寿命。
6.根据权利要求5所述的数据存储系统,其特征在于,所述检测模块具体用于根据所述存储介质的质保寿命、所述存储介质每天存储数据次数、所述存储介质擦写寿命和所述待存储数据块的大小,确定所述数据存储系统所需最小存储空间;
在所述数据存储系统所需最小存储空间大于或等于所述存储介质的存储空间的情况下,确定所述存储介质的使用寿命满足所述质保要求;
在所述数据存储系统所需最小存储空间小于所述存储介质的存储空间的情况下,确定所述存储介质的使用寿命不满足所述质保要求。
7.根据权利要求6所述的数据存储系统,其特征在于,所述存储介质的质保寿命、所述存储介质每天存储数据次数、所述存储介质擦写寿命、所述待存储数据块的大小和所述数据存储系统所需最小存储空间,满足下述公式:
所述存储介质的质保寿命×所述存储介质每天存储数据次数=质保寿命内存储介质存储总次数;
所述质保寿命内存储介质存储总次数/所述存储介质擦写寿命=存储备份数;
所述待存储数据块的大小×所述存储备份数=所述数据存储系统所需最小存储空间。
8.根据权利要求5-7任一项所述的数据存储系统,其特征在于,所述显示模块还用于,在所述存储介质的使用寿命不满足所述质保要求的情况下,显示质保不达标提醒。
9.根据权利要求1所述的数据存储系统,其特征在于,所述存储模块还用于:根据读取参数配置,读取所述多个存储扇区中的数据,并对读取的数据进行循环冗余校验CRC,以及利用所述CRC查找最近保存的有效数据块。
10.一种数据管理方法,其特征在于,应用于如权利要求1-9任一项所述的数据存储系统,所述方法包括:
检测存储介质的坏块情况和所述存储介质的剩余寿命;
根据所述存储介质的坏块情况,标记所述存储模块中的坏块;
在所述存储介质未被标记为坏块的存储区中实现待存储数据块的循环存储;其中,所述存储介质包括多个存储扇区,所述循环存储为:在当前写入数据的存储扇区写满时,擦除另一个存储扇区的数据,并在所述另一个存储扇区中写入数据,所述另一个存储扇区为:所述多个存储扇区中不同于所述当前写入数据的存储扇区的另一个存储扇区;
显示所述存储介质的剩余寿命。
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