[发明专利]III族氮化物结晶的制造方法在审

专利信息
申请号: 202010078270.X 申请日: 2020-02-03
公开(公告)号: CN111519247A 公开(公告)日: 2020-08-11
发明(设计)人: 森勇介;吉村政志;今西正幸;北本启;泷野淳一;隅智亮 申请(专利权)人: 国立大学法人大阪大学;松下电器产业株式会社
主分类号: C30B28/14 分类号: C30B28/14;C30B29/40
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 葛凡
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: iii 氮化物 结晶 制造 方法
【说明书】:

本发明提供一种抑制多晶化且提高III族氮化物结晶的品质的III族氮化物结晶的制造方法。III族氮化物结晶的制造方法包括:准备种基板的工序;以及以过饱和比(P0/Pe)成为大于1且为5以下的方式,供给III族元素氧化物气体和含氮元素的气体,从而使III族氮化物结晶在种基板上生长的工序,P0为III族氧化物气体的供给分压,Pe为III族氧化物气体的平衡分压。

技术领域

本发明涉及III族氮化物结晶的制造方法。

背景技术

III族氮化物结晶被利用于功率半导体领域等的异质结高速电子设备或LED、激光器领域等的光电子设备。作为III族氮化物结晶的制造方法,考虑了以III族氧化物作为原料的氧化物气相生长法(例如参照专利文献1)。该氧化物气相生长法中的反应体系如下所示。首先,将Ga加热,并在该状态下导入H2O气体。所导入的H2O气体与Ga发生反应而生成Ga2O气体(下述式(I))。并且,导入NH3气体,使其与所生成的Ga2O气体发生反应,从而在种基板上生长GaN结晶(下述式(II))。

2Ga+H2O→Ga2O+H2 (I)

Ga2O+2NH3→2GaN+H2O+2H2 (II)

现有技术文献

专利文献

专利文献1:WO2015/053341A1

非专利文献

非专利文献1:Prof.Dr.Ing.Thsan.Barin著、“Thermochemical Data of PureSubstances,Third Edition”、Wiley-VCH Verlag GmbH出版、2008年4月24日

发明内容

发明要解决的课题

然而,在现有的制造方法中,使III族氮化物结晶生长时,发生了与生长面不同的面进行取向的多晶化,难以在生长面内均匀地制作高品质的结晶。

因而,本发明的目的在于,提供一种抑制多晶化且提高III族氮化物结晶的品质的III族氮化物结晶的制造方法。

用于解决课题的方案

本发明所述的III族氮化物结晶的制造方法包括:

准备种基板的工序;以及

以过饱和比(P0/Pe)成为大于1且为5以下的方式,供给III族元素氧化物气体和含氮元素的气体,从而使III族氮化物结晶在上述种基板上生长的工序,

上述P0为上述III族元素氧化物气体的供给分压,上述Pe为上述III族元素氧化物气体的平衡分压。

发明效果

通过本发明所述的III族氮化物结晶的制造方法,能够提高所得III族氮化物结晶的品质。

附图说明

图1为实施方式1所述的III族氮化物结晶的制造方法的流程图。

图2为表示实施方式1所述的III族氮化物结晶的制造装置的构成的概略图。

图3为表示过饱和比与多晶密度的关系的实验结果的图。

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