[发明专利]一种提高电磁屏蔽效能的ITO薄膜玻璃及制备方法在审

专利信息
申请号: 202010051410.4 申请日: 2020-01-17
公开(公告)号: CN111018363A 公开(公告)日: 2020-04-17
发明(设计)人: 钱明灿;王腾;张贵恩;许晓丽;孙继伟;吕德涛 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十三研究所
主分类号: C03C17/23 分类号: C03C17/23;C03C17/06
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 代理人: 申绍中
地址: 030032 山西省太*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 电磁 屏蔽 效能 ito 薄膜 玻璃 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种提高电磁屏蔽效能的ITO薄膜玻璃,其特征在于:包括基体玻璃(1)与ITO-Ag复合膜(2),所述ITO-Ag复合膜(2)分别镀于所述基体玻璃(1)的两侧,且每侧ITO-Ag复合膜(2)均至少镀制一层。

2.一种提高电磁屏蔽效能的ITO薄膜玻璃,其特征在于:所述玻璃基材(1)可以为浮法玻璃、K9玻璃与石英玻璃中的任意一种。

3.根据权利要求1所述的一种提高电磁屏蔽效能的ITO薄膜玻璃的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、制备基体,采用浮法玻璃作为支撑体;

S2、准备靶材,分别准备ITO靶材与Ag靶材;

S3、表面镀膜,多靶磁控溅射沉积技术制备ITO-Ag复合膜;

S4、高温退火,高温退火工艺对薄膜进行热处理;

S5、成型切割,异型裁切机将镀制好的镀膜玻璃进行最后分切。

4.根据权利要求3所述的一种提高电磁屏蔽效能的ITO薄膜玻璃的制备方法,其特征在于:所述S1中,浮法玻璃的厚度为3.0mm,长度范围为50mm~500mm,宽度范围为50mm~400mm。

5.根据权利要求3所述的一种提高电磁屏蔽效能的ITO薄膜玻璃的制备方法,其特征在于:所述S2中,ITO靶材的纯度为99.99%,长度范围为50mm~610mm,宽度范围为50mm~128mm。

6.根据权利要求3所述的一种提高电磁屏蔽效能的ITO薄膜玻璃的制备方法,其特征在于:所述S2中,Ag靶材的纯度为99.999%,长度范围在50mm~610mm,宽度范围为50mm~128mm。

7.根据权利要求3所述的一种提高电磁屏蔽效能的ITO薄膜玻璃的制备方法,其特征在于:所述S3中,磁控溅射沉积温度设置在60℃,为保证膜层的均匀性及沉积的效率,溅射功率设置为1.5KW,通入的氧气为0.6sccm,小车速率60mm/min。

8.根据权利要求3所述的一种提高电磁屏蔽效能的ITO薄膜玻璃的制备方法:所述S3中,在浮法玻璃两侧连续周期制备ITO-Ag复合膜,总厚度控制小于400nm。

9.根据权利要求3所述的一种提高电磁屏蔽效能的ITO薄膜玻璃的制备方法,其特征在于:所述S4中,退火温度设置在300℃,退火时间设置在0.5h。

10.根据权利要求3所述的一种提高电磁屏蔽效能的ITO薄膜玻璃的制备方法,其特征在于:所述S5的具体步骤为:采用异型裁切机将镀制好的镀膜玻璃进行最后分切,再打磨清洗,尺寸精度精确到0.1mm,工艺要求无毛刺,无裂口。

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