[发明专利]一种像素补偿电路、显示基板及显示装置

说明书

本发明公开了一种像素补偿电路、显示基板及显示装置，该像素补偿电路包括侦测电路、修补电路和发光器件；所述侦测电路分别与所述修补电路、所述补偿电路和所述发光器件电连接；所述补偿电路用于给所述发光器件提供一固定电流，所述侦测电路对流经所述发光器件的电流进行侦测，所述修补电路根据所述侦测电路所侦测到的电流确定补偿电流，并输入所述补偿电流至所述发光器件。以达到修补像素点上发光器件的电性缺陷的目的，避免因EL器件的电性缺陷引起的导通电流下降而导致亮度下降的问题，从而提高了良品率。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及的是一种像素补偿电路、显示基板及显示装置。

背景技术

电激发光(Electroluminescence，EL)器件包括有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)、发光二极管(Light-Emitting Diode，LED)等器件。近年来EL器件大量用于制作显示器产品,相较于传统阴极射线管显示器(Cathode Ray Tube，CRT)、液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等,EL器件应用面展现了更好的光学特性,更低的功耗表现以及更好的产品型态可塑性。在显示器制造过程中,驱动电路(通常由场效应晶体管及电容组成)区块与EL器件属分离工艺,因此如欲实现此电流控制发光功能,必须经由结合(Bonding)工艺实施,而此工艺常因前制程缺陷(例如，污染物干扰、设备误差等非预期因素)引起的电性缺陷会使得EL器件的导通电流下降,如图1、图2所示，若EL器件接触电路良好，则R_E＝0，V_D＝0，若EL器件接触电路偏移跑位或有异物存在，则会产生明显阻值，即R_E大于0，V_D大于0，造成额外压差△V，EL器件的跨压降低，引起驱动电流I_EL下降，发光电流降低，从而引起亮度下降的问题，导致影响良品率较低。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种像素补偿电路、显示基板及显示装置，以解决因EL器件的电性缺陷引起的导通电流下降而导致亮度下降的问题，以提高良品率。

本发明的技术方案如下：

一种像素补偿电路，该像素补偿电路包括侦测电路、修补电路、补偿电路和发光器件；所述侦测电路分别与所述修补电路、所述补偿电路和所述发光器件电连接；所述补偿电路用于给所述发光器件提供一固定电流，所述侦测电路对流经所述发光器件的电流进行侦测，所述修补电路根据所述侦测电路所侦测到的电流确定补偿电流，并输入所述补偿电流至所述发光器件。

本发明的进一步设置，所述侦测电路包括第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管；所述第一晶体管的第一端连接电源正极，所述第一晶体管的第二端连接所述第二晶体管的第一端，所述第一晶体管的栅极连接一发光控制信号线；所述第二晶体管的第二端连接所述第三晶体管的第一端，所述第二晶体管的栅极连接一第一控制信号线；所述第三晶体管的第二端连接所述发光器件的阳极，所述第三晶体管的栅极连接所述发光控制信号；其中，所述发光控制信号线提供一发光控制信号，用于控制所述第一晶体管和所述第三晶体管的启闭；所述第一控制信号线提供一第一控制信号，用于控制所述第二晶体管的启闭；所述修补电路与所述第二晶体管的第二端以及所述第三晶体管的第一端的共接端连接。

本发明的进一步设置，所述修补电路包括第四晶体管，所述第四晶体管的第一端连接所述第二晶体管的第二端以及所述第三晶体管的第一端的共接端，所述第四晶体管的第二端连接电源正极，所述第四晶体管的栅极连接一修补电压线。