[发明专利]数据处理方法、装置、电子设备和存储设备

说明书

本申请公开了一种数据处理方法，包括：获取执行目标用例产生的链路数据；根据所述链路数据，获得目标用例的失败归因基础特征集；根据所述目标用例的失败归因基础特征集和从用例画像库得到的历史失败用例的用例画像，获得所述目标用例的失败经验归因；其中，用例画像库中存储有历史失败用例的用例画像，所述用例画像包括失败归因基础特征集和失败经验归因；将所述目标用例的失败经验归因和所述目标用例的失败归因基础特征集作为目标用例的用例画像存入用例画像库。采用上述方法，以解决现有技术存在的排查疑难用例的问题时难度较大的问题。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，具体涉及一种数据处理方法、装置、电子设备和存储设备。

背景技术

在功能测试中，每个项目上线之前都要经过用例回归环节。一旦用例失败后排查往往费时费力，研发人员需要花费大量精力定位各个环节问题，需要对测试环境、修改代码造成的影响、对外部依赖的稳定性、测试数据污染等多个环节进行排查，整个排查流程依赖人工经验。

现有技术下，debug系统采用规则匹配的方式进行归因展示，即通过搜集所需的数据去规则库中匹配出符合条件的规则，以此判定失败原因。

现有技术存在以下缺点：

1.简单规则匹配的方式往往只能给出基础的评判，对于更复杂的场景排查效果不佳，仍需依赖人工经验排查。

2.由于每次的排查的过程和结果都是独立的，并没有将排查经验进行沉淀，在排查疑难用例时，往往依赖于研发人员是否经验丰富，如果一旦新人接手应用，面对新问题将无从下手，加大了问题排查的难度。

发明内容

本申请提供一种数据处理方法、装置、电子设备及存储设备，以解决现有技术存在的排查疑难用例的问题时难度较大的问题。

本申请提供一种数据处理方法，包括：

获取执行目标用例产生的链路数据；

根据所述链路数据，获得目标用例的失败归因基础特征集；

根据所述目标用例的失败归因基础特征集和从用例画像库得到的历史失败用例的画像，获得所述目标用例的失败经验归因；其中，用例画像库中存储有历史失败用例的用例画像，所述用例画像包括失败归因基础特征集和失败经验归因；

将所述目标用例的失败经验归因和所述目标用例的失败归因基础特征集作为所述目标用例的用例画像存入用例画像库。

可选的，所述根据所述目标用例的失败归因基础特征集和从用例画像库得到的历史失败用例的用例画像，获得目标用例的失败经验归因，包括：

根据所述目标用例的失败归因基础特征集和从用例画像库得到的历史失败用例的用例画像，获得目标用例的失败归因推荐列表；

根据所述目标用例的失败归因推荐列表，获得目标用例的失败经验归因。

可选的，所述根据所述目标用例的失败归因基础特征集和从用例画像库得到的历史失败用例的用例画像，获得目标用例的失败归因推荐列表，包括：

根据所述目标用例的失败归因基础特征集和从用例画像库得到的历史失败用例的失败归因基础特征集，获得所述目标用例与历史失败用例之间的用例画像距离；

根据用例画像距离，获得目标用例的失败归因推荐列表。

可选的，所述根据所述目标用例的失败归因基础特征集和从用例画像库得到的历史失败用例的失败归因基础特征集，获得所述目标用例与历史失败用例之间的用例画像距离，包括：

根据所述目标用例的失败归因基础特征集包含的失败归因基础特征和失败归因基础特征的权重，以及从用例画像库得到的历史失败用例的失败归因基础特征集包含的失败归因基础特征和失败归因基础特征的权重，获得所述目标用例与历史失败用例之间的用例画像距离。