[发明专利]一种航天电子机箱的制造方法有效
申请号: | 202010032590.1 | 申请日: | 2020-01-13 |
公开(公告)号: | CN111274678B | 公开(公告)日: | 2023-04-11 |
发明(设计)人: | 庞斌;马俊;曾志;何际军 | 申请(专利权)人: | 四川华丰科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F119/08;H05K5/02 |
代理公司: | 北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386 | 代理人: | 丛洪杰 |
地址: | 621052 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 航天 电子 机箱 制造 方法 | ||
本发明涉及一种航天电子机箱的制造方法,属于机箱研发设计技术领域,解决了现有航天电子机箱设计过程中:(1)依靠人工计算确保产品的可靠性及精度,效率低、可靠性低;(2)软件设计过程结构设计和可靠性分析分离,过程复杂、效率低下的问题。本发明的方法,步骤包括:S1:建立尺寸参数化计算模型,初步计算机箱尺寸公差;S2:进行机箱热分析及模块盒插拔力分析参数化仿真;S3:计算电子器件封装布局及模块盒插拔角度和偏移量;S4:计算获得机箱尺寸公差;S5:根据尺寸公差进行电子机箱的生产制造。本发明将电子机箱设计过程的结构设计和可靠性分析相结合,使电子机箱研发设计易于操作,提高了电子机箱设计和制造效率。
技术领域
本发明涉及机箱的研发设计领域,具体涉及航天电子机箱的设计,特别涉及一种航天电子机箱的制造方法。
背景技术
随着计算机技术、计算力学等学科的快速发展,出现了CAD(CAD-Computer AidedDesign,计算机辅助设计)和CAE(Computer Aided Engineering,计算机辅助工程)技术,它们的出现提高了产品的设计效率和可靠性。
虽然现有的制图软件以及有限元分析软件功能强大,缩短了产品研发的周期,但现阶段的通用软件不是专门为电子设备研发所设计的,产品的结构设计和可靠性分析相互分离。由于实验成本比较大,目前的热设计主要采用CAE软件对其进行验证,但是由于大部分产品研发人员很少接触热设计、力学理论,再加上CAE操作界面繁琐,学习起来时间成本较大。在产品的研发阶段,热设计基本就是“设计-仿真分析-改进设计”的循环,重复性工作比较多;同时,现有的CAD/CAE软件模型转换困难,增加了提升设计水平的难度。
为了推进我国航天事业的发展,对航天电子机箱的研发要求周期短、效率高,且要求产品的可靠性和精度高,然而,现有航天电子机箱研发过程中,多数通过人工计算来确保产品的可靠性及精度,计算过程复杂、效率低、可靠性低;即使采用软件对航天电子机箱进行研发设计,也存在结构设计和可靠性分析相互分离,设计校核过程复杂,效率低下的问题,并且对设计人员有较高的专业素养要求。
发明内容
鉴于上述的分析,本发明实施例旨在提供一种航天电子机箱的制造方法,用以解决现有航天电子机箱设计过程中:(1)依靠人工计算确保产品的可靠性及精度,效率低、可靠性低;(2)软件设计过程结构设计和可靠性分析分离,过程复杂、效率低下的问题。
本发明的目的主要通过以下技术方案实现的:
一种航天电子机箱的制造方法,所述制造方法步骤包括:
S1:建立尺寸参数化计算模型,初步计算机箱尺寸公差;
S2:进行机箱热分析及模块盒插拔力分析参数化仿真;
S3:计算电子器件封装布局及模块盒插拔角度和偏移量;
S4:计算获得机箱尺寸公差;
S5:根据尺寸公差进行电子机箱的生产制造。
进一步,所述S1中,所述参数化计算是指通过在三维软件中人机交互标注尺寸公差,获取模型表面特征及尺寸集合,对尺寸链进行搜索并自动计算出封闭环尺寸公差大小。
进一步,所述S1步骤包括:
S1.1:对装配体或零件进行尺寸公差标注;
S1.2:获取尺寸公差标注的尺寸信息,建立尺寸信息集合;
S1.3:确定封闭环,选择封闭环端面;
S1.4:根据尺寸信息集合和封闭环端面,获取封闭环所在尺寸链;
S1.5:根据获取的尺寸链采用回路法计算封闭环尺寸。
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