[发明专利]EPMA-WDX的全岩矿物识别与平面成像方法及装置

说明书

本发明提供了一种EPMA‑WDX的全岩矿物识别与平面成像方法及装置，包括：对样品光薄片的组成元素进行WDX面扫描分析获得面扫描图像；根据面扫描图像筛选出无法确定矿物类型的样品光薄片；对无法确定矿物类型的样品光薄片进行EDX及WDX分析获得识别结果；利用识别结果对叠加处理后的面扫描图像标定矿物类型获得全岩矿物原位平面图。本申请所最终形成的原位全岩矿物平面分布图，非常准确，直观又客观。

技术领域

本申请属于地质领域的实验分析技术，具体地讲，涉及一种EPMA-WDX的全岩矿物识别与平面成像方法及装置。

背景技术

岩石矿物是一切地质现象的物质基础与载体，因此，对其精准鉴定与识别意义重大又深远。一般常用的光学显微镜分析、化学分析、光谱分析、X衍射分析等传统分析技术在进行全岩矿物分析时，皆不同程度地存在着局限性。如光学显微镜分析技术，主要通过矿物在透射光的作用下所呈现出的特有光性特征来识别矿物，属于定性分析，分析结果受分析者水平高低影响；X衍射分析也是一种常用的全岩矿物识别方法，但是为混样分析，无法进行平面成像识别，如此种种，不一而足。在目前的现有技术中，全岩组构测试的方法主要存在三点问题：①BSEI(背散射电子图像)中灰度相近的矿物极易混淆，点分析时易于遗漏矿物；②无法形成直观、准确的矿物识别平面图；③需要大量的人力操作，统计量大。

发明内容

本申请提供了一种全岩矿物识别与平面成像方法及装置，以至少解决现有技术中采用单种分析手段容易导致遗漏，无法形成直观准确的矿物识别平面图且人力参与度大的问题。

根据本申请的一个方面提供了一种全岩矿物识别与平面成像的方法，包括：

对样品光薄片的组成元素进行WDX面扫描分析获得面扫描图像；

根据面扫描图像筛选出无法确定矿物类型的样品光薄片；

对无法确定矿物类型的样品光薄片进行EDX及WDX分析获得识别结果；

利用识别结果对叠加处理后的面扫描图像标定矿物类型获得全岩矿物原位平面图。

在一实施例中，对样品光薄片的组成元素进行WDX面扫描分析获得面扫描图像，包括：

对样品光薄片进行光学显微镜分析、BSEI分析及EDX分析，获得样品光薄片中的岩石矿物和组成元素；

根据组成元素的类型设置WDX面扫描的参数；

根据参数对组成元素进行WDX面扫描分析，获得面扫描图像。

在一实施例中，根据面扫描图像筛选出无法确定矿物类型的样品光薄片，具体包括：

分析面扫描图像中各组成元素的富集程度及分布情况；

根据富集程度、分布情况、岩石矿物和组成元素确定样品光薄片的矿物类型，获得无法确定矿物类型的样品光薄片。

在一实施例中，对无法确定矿物类型的样品光薄片进行EDX及WDX分析获得识别结果，包括：

将无法确定矿物类型的样品光薄片在BSEI中放大后利用EDX点分析进行识别获得元素类型及组成；

利用获取的元素类型及组成建立标样文件，对标样文件进行WDX定量分析获得识别结果。

在一实施例中，本申请提供的方法还包括：

根据识别结果确定样品光薄片的矿物类型。

根据本申请的另一个方面，还提供了一种全岩矿物识别与平面成像装置，包括：

面扫描处理单元，用于对样品光薄片的组成元素进行WDX面扫描分析获得面扫描图像；

筛选单元，用于根据面扫描图像筛选出无法确定矿物类型的样品光薄片；