[发明专利]安检方法及装置

说明书

本发明实施例提供一种安检方法及装置，电子设备利用太赫兹阵列探测器扫描待检测对象，以得到第一太赫兹图像。然后，对于第一太赫兹图像中的每一列像素点，分别确定对应列的校准基准值。接着，根据校准基准值，校准第一太赫兹图像中对应列的像素点，以得到第二太赫兹图像，并显示第二太赫兹图像。采用该种方案，通过对质量差的太赫兹图像进行校准，得到质量好的太赫兹图像，依据该质量好的太赫兹图像进行安检，实现提高安检准确率的目的。

技术领域

本发明实施例涉及安全检查技术领域，尤其涉及一种安检方法及装置。

背景技术

太赫兹波的波长介于红外线的波长和毫米波的波长之间，对纺织品、皮革等材料具有很好的穿透性，所成图像具有更高的空间分辨率；比X射线能量低多个数量级，对生物组织不会造成电离损伤，因此，太赫兹波被广泛的应用于安全检查中，如海关检查、机场以及车站等公共场所检查中。

基于太赫兹的安检过程中，通过太赫兹阵列探测器对检测对象进行扫描，从而获取到检测对象的太赫兹图像。然后，分析该太赫兹图像，以判断该检测对象是否携带管制物品，如刀具、枪支等。

然而，太赫兹阵列探测器通常是由多个太赫兹探测器组成的线阵太赫兹探测器，受自身特性的影响，输入信号相同的情况下，不同太赫兹探测器的输出信号不同，导致太赫兹阵列探测器获取到的太赫兹图像质量差，进而导致安检准确率低，容易出现安全事故。

发明内容

本发明实施例提供一种安检方法及装置，通过对质量差的太赫兹图像进行校准，得到质量好的太赫兹图像，依据该质量好的太赫兹图像进行安检，实现提高安检准确率的目的。

第一方面，本发明实施例提供的一种安检方法及装置，包括：

利用太赫兹阵列探测器扫描待检测对象，以得到第一太赫兹图像；

对于所述第一太赫兹图像中的每一列像素点，分别确定对应列的校准基准值；

根据所述校准基准值，校准所述第一太赫兹图像中对应列的像素点，以得到第二太赫兹图像；

显示所述第二太赫兹图像。

一种可行的设计中，所述太赫兹阵列探测器包含X个太赫兹探测器，所述X个太赫兹探测器线阵排列，所述X≥1，所述第一太赫兹图像包含X列像素点，不同的太赫兹探测器对应所述X列像素点中不同列的像素点，所述对于所述第一太赫兹图像中的每一列像素点，分别确定对应列的校准基准值，包括：

确定第i列像素点中预设数量的像素点中，每个像素点对应的电压值，得到预设数量的电压值，将所述预设数量的电压值的平均电压值作为所述第i列像素点的校准基准值，所述第i列像素点是所述X列像素点中的任意一列。

一种可行的设计中，所述根据所述校准基准值。校准所述第一太赫兹图像中对应列的像素点，以得到第二太赫兹图像，包括：

对于所述第i列像素点中的第j像素点，确定所述第j像素点对应的电压值，所述电压值是第i太赫兹探测器辐射所述待检测对象得到的初始电压被放大后的电压值，所述第i太赫兹探测器是所述第i列像素点对应的太赫兹探测器；

利用所述第j像素点对应的电压值、所述第i列像素点的校准基准值以及系数ki，确定第i校准参数，其中，所述第i校准参数满足如下公式：

△Ti＝ki×(U_Hi-U_Lij)，其中，所述△Ti表示所述第i校准参数，所述U_Hi表示第i校准基准值，所述U_Lik表示所述第i列像素点中第j个像素点的电压值；

根据所述第i校准参数校准所述第j像素点的像素值。

一种可行的设计中，所述利用所述第j像素点对应的电压值、所述第i列像素点的校准基准值以及系数ki，确定第i校准参数之前，还包括：