[发明专利]安检方法及装置

权利要求书

1.一种安检方法，其特征在于，包括：

利用太赫兹阵列探测器扫描待检测对象，以得到第一太赫兹图像；

对于所述第一太赫兹图像中的每一列像素点，分别确定对应列的校准基准值；所述每一列像素点是由同一个太赫兹探测器对所述待检测对象扫描得到的；

根据所述校准基准值，校准所述第一太赫兹图像中对应列的像素点，以得到第二太赫兹图像；

显示所述第二太赫兹图像；

所述太赫兹阵列探测器包含X个太赫兹探测器，所述X个太赫兹探测器线阵排列，所述X≥1，所述第一太赫兹图像包含X列像素点，不同的太赫兹探测器对应所述X列像素点中不同列的像素点，所述对于所述第一太赫兹图像中的每一列像素点，分别确定对应列的校准基准值，包括：

确定第i列像素点中预设数量的像素点中，每个像素点对应的电压值，得到预设数量的电压值，将所述预设数量的电压值的平均电压值作为所述第i列像素点的校准基准值，所述第i列像素点是所述X列像素点中的任意一列；

所述根据所述校准基准值，校准所述第一太赫兹图像中对应列的像素点，以得到第二太赫兹图像，包括：

对于所述第i列像素点中的第j像素点，确定所述第j像素点对应的电压值，所述电压值是第i太赫兹探测器辐射所述待检测对象得到的初始电压被放大后的电压值，所述第i太赫兹探测器是所述第i列像素点对应的太赫兹探测器；

利用所述第j像素点对应的电压值、所述第i列像素点的校准基准值以及系数ki，确定第i校准参数；其中，所述第i校准参数等于所述第i列像素点的校准基准值与所述第i列像素点中第j个像素点的电压值的差乘以系数ki；

根据所述第i校准参数校准所述第j像素点的像素值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第i校准参数满足如下公式：

△Ti＝ki×(U_Hi-U_Lij)，其中，所述△Ti表示所述第i校准参数，所述U_Hi表示第i校准基准值，所述U_Lij表示所述第i列像素点中第j个像素点的电压值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述第j像素点对应的电压值、所述第i列像素点的校准基准值以及系数ki，确定第i校准参数之前，还包括：

获取样本数据，所述样本数据包含Y对数据，所述Y对数据中的每一对数据包含温度和所述温度对应的电压值，所述温度是所述第i太赫兹探测器辐射黑体辐射源的温度，所述电压值是所述第i太赫兹探测器辐射所述黑体辐射源得到的初始电压被放大后的电压值；

根据所述Y对数据，确定所述第i太赫兹探测器的输入温度与输出电压的关系曲线，以得到所述ki，所述关系曲线满足如下公式：T＝Ai+kiU，其中，Ai表示截距。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述Y对数据包含的温度k和所述温度k对应的电压值m，所述温度k对应的电压值m是所述黑体辐射源的温度为所述温度k时，所述第i太赫兹探测器辐射所述黑体辐射源得到的多个初始电压被放大后的电压值的平均值。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述显示所述第二太赫兹图像之后，还包括：

根据所述第二太赫兹图像，判断所述待检测对象是否携带管制工具；

当所待检测对象携带管制工具时，输出告警信息。