[发明专利]离子化装置

说明书

本发明涉及一种离子化装置(1)，可装卸地安装于离子分析装置的主体(2)，具备：离子化部(10)，具有试样载台(14)和向载置于该试样载台(14)上的试样照射光的光照射部(11)、(12)、(13)；基体；可动机构，设置于该基体，将所述离子化部保持为可以相对于一个以上的轴移动或者旋转。

技术领域

本发明涉及一种离子化装置。

背景技术

作为质量分析装置中使用的试样的离子化法之一，具有激光离子化(LDI：LaserDesorption/Ionization)法。激光离子化法是向试样照射激光，利用该激光的能量激发试样分子而将其离子化的方法。通过LDI法将试样分子离子化的离子化装置被称为LDI装置。

此外，作为激光离子化法之一，具有基质辅助激光解吸离子化(MALDI：MatrixAssisted Laser Desorption/Ionization)法。通过基质辅助激光解吸离子化法，容易吸收激光，此外，将容易离子化的物质(基质物质)与试样混合(或者涂布于试样的表面)，从其中取入试样分子。将取入了试样分子的基质物质微晶化，通过向其照射激光，使试样分子离子化。通过MALDI法将试样分子离子化的离子化装置被称为MALDI装置。

LDI装置、MALDI装置具备：光照射部，包含激光光源以及对从该激光光源发出的激光进行聚光而向试样照射的聚光光学系统等；试样载台，载置有试样；试样载台移动机构，使该试样载台移动；观察装置，用于确认试样表面的状态。在LDI装置、MALDI装置中，具有能够在大气压气氛下(不进行真空排气)简便地将试样分子离子化的构成，通过这样的LDI装置、MALDI装置生成的离子从设置于质量分析装置的主体的离子导入口被导入至质量分析装置的主体，从而进行质量分析(例如专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：美国专利第5965884号说明书

发明内容

发明要解决的技术问题

上述质量分析装置中的质量分析的测量灵敏度受到在试样表面的激光的照射位置产生的离子通过离子导入口的效率的影响。试样表面的激光的照射位置和离子导入口的位置的偏差越大，离子被导入至质量分析装置主体的效率越低，导致测量灵敏度下降。因此，在将LDI装置、MALDI装置安装于质量分析装置的主体时，要求较高的位置精度。设置于质量分析装置的主体的离子导入口例如直径为1mm左右的大小，因而在LDI装置、MALDI装置的安装中，要求数百μm以下的较高的位置精度。

以往，将LDI装置、MALDI装置安装于质量分析装置的主体是作业者通过抱起离子化装置使其与主体的安装面抵接，调整其安装位置并利用螺栓等固定件进行固定来进行的。但是，在使用更高性能/多功能的LDI装置、MALDI装置的情况下，有时搭载大型的激光照射光学系统、试样载台、观察机构等，而LDI装置、MALDI装置的尺寸、重量增大，因此存在难以以较高的位置精度将其安装于质量分析装置的主体的问题。

在此，以对通过LDI法、MALDI法生成的离子进行质量分析的情况为例进行了说明，但在对通过这些方法生成的离子进行迁移率分析的情况下也存在上述同样的问题。

本发明要解决的技术问题在于提供一种能够简便且以较高的位置精度安装于离子分析装置的主体的离子化装置。

用于解决上述技术问题的方案

为了解决上述技术问题而完成的本发明是可装卸地安装于离子分析装置的主体的离子化装置，具备：

离子化部，具有试样载台和对载置于该试样载台上的试样照射光的光照射部；

基体；

可动机构，设置于所述基体，将所述离子化部保持为可以相对于一个以上的轴移动或者旋转。

发明效果