[发明专利]试样支承体、离子化方法和质量分析方法

说明书

试样支承体是用于使用移液管吸头滴下的试样溶液中所含的试样的离子化的试样支承体。试样支承体具备：基板，其形成有在第1表面和第2表面开口的多个贯通孔；和框架，其形成有以从基板的厚度方向观察的情况下与测量区域重叠的方式在厚度方向贯通的贯通孔，且与基板的第1表面接合。框架的贯通孔包括宽度窄部，该宽度窄部具有比移液管吸头的前端的外径小的宽度。

技术领域

本发明涉及一种试样支承体、离子化方法和质量分析方法。

背景技术

现有技术中，作为为了进行质量分析等而将生物体试样等试样离子化的方法，已知有激光解吸离子化法。作为用于激光解吸离子化法的试样支承体，专利文献1中记载了包括形成有多个贯通孔的基板和设置于基板的至少一个表面的导电层的试样支承体。

现有技术文献

专利文献

[专利文献1]日本专利第6093492号公报

发明内容

发明想要解决的技术问题

作为使用了上述试样支承体的测量方法，有如下方法：对在上述试样支承体中形成有导电层的面滴下测量对象(离子化对象)的试样溶液，在该试样溶液干燥后对该面照射激光等能量射线。在该方法中，试样溶液的滴下可以使用移液管吸头实施。在此，为了在尽可能短的时间内使试样溶液干燥，有时试样溶液的滴下量为非常少量(例如50nL～100nL等)。此时，为了向试样支承体的测量区域(用于配置试样的区域)可靠地滴下试样溶液，需要使移液管吸头的前端尽量接近测量区域。

但是，手动进行使移液管吸头靠近测量区域的操作时，移液管吸头的前端有可能无意地接触测量区域。另外，即使在机械地进行上述操作的情况下，也不容易高精度地定位移液管吸头的前端的高度。特别是，在通过同时操作多个移液管吸头来对设置于试样支承体的多个测量区域同时滴下试样溶液的情况下，要求使多个移液管吸头的前端的高度位置高精度地一致，但这样的控制并不容易。这样，无论通过手动或机械操作中的哪一个来进行使用移液管吸头滴下试样溶液的操作，移液管吸头的前端都有可能与测量区域接触。另外，由于构成试样支承体的基板是薄膜状的薄膜，所以如果移液管吸头的前端与测量区域接触，则在该测量区域基板有可能破损。

因此，本公开的目的在于提供一种能够防止因基板与移液管吸头的接触而导致的基板的破损的试样支承体、离子化方法和质量分析方法。

用于解决技术问题的方法

本公开的一个方面的试样支承体用于试样的离子化，该试样是使用移液管吸头滴下的试样溶液中所含的试样，所述试样支承体具备：基板，其具有第1表面和与第1表面相反侧的第2表面，并形成有在第1表面和第2表面开口的多个第1贯通孔；和框架，其以在从基板的厚度方向观察的情况下与基板中用于使试样的成分离子化的测量区域重叠的方式形成有在厚度方向贯通的第2贯通孔，并与基板的第1表面接合，第2贯通孔包括宽度窄部，该宽度窄部具有比移液管吸头的前端的外径小的宽度。

在上述试样支承体中，在框架中，在形成有多个第1贯通孔的基板中的与用于使试样的成分离子化的测量区域重叠的部分，形成有包含宽度窄部的第2贯通孔，该宽度窄部具有比用于滴下试样溶液的移液管吸头的前端的外径小的宽度。因此，即使为了向测量区域的第1表面滴下试样溶液而进行了使移液管吸头的前端靠近第1表面的操作，移液管吸头的前端也不会通过第2贯通孔。即，通过第2贯通孔的宽度窄部，可靠地防止移液管吸头的前端贯通第2贯通孔而与测量区域的第1表面接触。因此，根据上述试样支承体，能够防止基板与移液管吸头接触导致的基板的破损。

第2贯通孔也可以形成为具有比外径小的宽度的筒状。由此，通过具有比较简单的形状的第2贯通孔，能够可靠地防止移液管吸头的前端与测量区域的第1表面的接触。