[发明专利]试样支承体、离子化方法和质量分析方法

权利要求书

1.一种试样支承体，其特征在于：

所述试样支承体用于试样的离子化，所述试样是使用移液管吸头滴下的试样溶液中所含的试样，

所述试样支承体具备：

基板，其具有第1表面和与所述第1表面相反侧的第2表面，并形成有在所述第1表面和所述第2表面开口的多个第1贯通孔；和

框架，其以从所述基板的厚度方向观察的情况下与所述基板中用于使所述试样的成分离子化的测量区域重叠的方式形成有在所述厚度方向贯通的第2贯通孔，并与所述基板的所述第1表面接合，

所述第2贯通孔包括宽度窄部，该宽度窄部具有比所述移液管吸头的前端的外径小的宽度。

2.如权利要求1所述的试样支承体，其特征在于：

所述第2贯通孔形成为具有比所述外径小的宽度的筒状。

3.如权利要求1所述的试样支承体，其特征在于：

所述第2贯通孔形成为内径随着沿所述厚度方向接近所述第1表面而变小的锥状，

在从所述厚度方向观察的情况下，所述第2贯通孔的与所述第1表面侧相反的一侧的开口具有包含所述移液管吸头的所述前端的大小。

4.如权利要求1所述的试样支承体，其特征在于：

所述第2贯通孔具有：

筒状部，其包含所述宽度窄部；和

碗状部，其与所述筒状部的与所述第1表面侧相反的一侧的端部连接，且内径随着沿所述厚度方向远离所述第1表面而变大，

在从所述厚度方向观察的情况下，所述碗状部的与所述筒状部相反的一侧的开口具有包含所述移液管吸头的所述前端的大小。

5.如权利要求4所述的试样支承体，其特征在于：

所述第2贯通孔还具有内侧碗状部，该内侧碗状部与所述筒状部的所述第1表面侧的端部连接，且内径随着沿所述厚度方向接近所述第1表面而变大。

6.如权利要求1～5中任一项所述的试样支承体，其特征在于：

所述试样支承体还包括粘接层，该粘接层配置于所述框架与所述第1表面之间，且将所述框架与所述第1表面粘接，

在所述框架中，在所述第2贯通孔的附近且与所述粘接层相对的面形成有收纳所述粘接层的一部分的凹部。

7.如权利要求1～6中任一项所述的试样支承体，其特征在于：

所述试样支承体还包括磁性基板，该磁性基板由磁性材料形成，且设置于所述基板的所述第2表面。

8.如权利要求7所述的试样支承体，其特征在于：

所述框架由磁性材料形成，

所述磁性基板通过所述框架与所述磁性基板之间的磁力而相对于所述基板的所述第2表面固定。

9.如权利要求7所述的试样支承体，其特征在于：

在从所述厚度方向观察的情况下不与所述基板重叠的所述框架的周缘部和所述磁性基板的周缘部彼此接合。

10.如权利要求1～9中任一项所述的试样支承体，其特征在于：

进一步在所述第1表面具备导电层，该导电层以不堵塞所述第1贯通孔的方式设置。

11.如权利要求1～10中任一项所述的试样支承体，其特征在于：

所述第1贯通孔的宽度为1nm～700nm，

所述第2贯通孔的所述宽度窄部的宽度为500μm以下。

12.如权利要求1～11中任一项所述的试样支承体，其特征在于：

在所述基板上形成有多个所述测量区域，

在所述框架形成有与所述多个所述测量区域对应的多个所述第2贯通孔。

13.如权利要求1～12中任一项所述的试样支承体，其特征在于：

在所述第2贯通孔的内表面设置有亲水性的涂层。