[发明专利]用于评估电子设备的声学特性的系统和方法

权利要求书

1.一种用于评估电子设备(110)的方法(1100)，所述方法(1100)包括：

使用声管(100)确定(1101)第一参数的值(Z_OE)，所述第一参数的所述值(Z_OE)指示参考终端(101)的声阻抗；

使用所述声管(100)确定(1102)第二参数的值所述第二参数的所述值指示当被所述电子设备(110)闭塞时所述参考终端(101)的所述声阻抗；以及

基于所述第一参数的所述值(Z_OE)和所述第二参数的所述值计算(1103)第三参数的值(Z_HP)，所述第三参数的所述值(Z_HP)指示所述电子设备(110)的声阻抗。

2.根据权利要求1所述的方法(1100)，其中：

基于所述第一参数的所述值(Z_OE)和所述第二参数的所述值之间的比值计算所述第三参数的所述值(Z_HP)。

3.根据权利要求1或2所述的方法(1100)，所述方法还包括：

基于所述第三参数的所述值(Z_HP)计算作为闭塞指数(OI)的第四参数的值，其中，所述OI的所述值表示所述电子设备(110)的所述声阻抗相对于闭塞效应的强度。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法(1100)，其中：

所述参考终端(101)是

-所述管的开口端，或者

-人工耳，或者

-仿真头。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法(1100)，其中：

所述电子设备(110)包括：

-主动消噪(ANC)耳机，或者

-主动降噪(ANR)耳机。

6.根据权利要求3至5中任一项所述的方法(1100)，所述方法还包括：

当所述OI的所述值大于阈值时，基于所述OI的所述值选择所述电子设备(110)的反馈滤波器(404)的频率相关加权因子K1；

将所述K1应用到所述电子设备(110)；以及

在将所述K1应用到所述电子设备之后，重新计算作为OI的所述第四参数的所述值。

7.根据权利要求6所述的方法(1100)，其中：

迭代执行选择所述K1、应用所述K1、以及重新计算作为OI的所述第四参数的所述值，其中，进行所述迭代执行直到重新计算的所述OI的所述值等于或小于所述阈值。

8.根据权利要求3至7中任一项所述的方法(1100)，所述方法还包括：

测量外部扬声器(903)和附加麦克风(901)之间的第一传递函数值(H₁)，其中，所述附加麦克风(901)置于所述参考终端(101)内部；

测量所述外部扬声器(903)和所述附加麦克风(901)之间的第二传递函数值(H₂)；以及

基于所述第一传递函数值(H₁)和所述第二传递函数值(H₁)计算第五参数的值(H_iso)，所述第五参数的所述值(H_iso)指示所述电子设备(110)的阻尼。

9.根据权利要求8所述的方法(1100)，所述方法还包括：

当计算出所述OI的值大于所述阈值时，基于所述第五参数的所述值(H_iso)选择所述电子设备(110)的前馈滤波器(804)的频率相关加权因子K2；

将所述K2应用到所述电子设备(110)；以及

在将所述K2应用到所述电子设备之后，重新计算作为OI的所述第四参数的所述值和所述第五参数的所述值(H_iso)。