[发明专利]用于检查构件、尤其是喷射器的方法在审
申请号: | 201980089537.0 | 申请日: | 2019-12-11 |
公开(公告)号: | CN113302467A | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
发明(设计)人: | K-O·恩勒特 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
主分类号: | G01M7/02 | 分类号: | G01M7/02;G01M13/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 侯鸣慧 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检查 构件 尤其是 喷射器 方法 | ||
本发明涉及一种方法(100),所述方法用于检查构件、尤其是喷射器,并且包括下述方法步骤:a)测量(101)不同质量等级的多个参考构件的振动谱作为参考谱,其中,对于每个参考构件,将对应的参考谱中的频率线和来自对对应的参考构件的结构分析研究中的结果分别相互配属,b)激励(102)待检查构件中的振动,c)测量(103)响应于方法步骤b)发出的振动作为振动谱,和d)将来自所述构件的根据方法步骤c)所测量的振动谱中的频率线与来自所述参考构件的参考谱中的相应的频率线进行比较(105),以便求取至少一个参考谱,该至少一个参考谱在所述频率线的幅度方面至少与所述构件的振动谱不同,并且根据结构分析研究的配属于该至少一个参考谱的结果在缺陷的位置和/或大小方面对构件进行分类。
技术领域
本发明涉及一种用于检查构件、尤其是喷射器的方法,并且此外还涉及一种尤其用于实施这种方法的设备。
背景技术
结构缺陷(例如在由钢形成的构件的架构中的非金属夹杂物)能够根据其位置和大小而在运行时损坏构件的功能能力并且在相当大的程度上缩短所述构件的寿命周期。因此,在设置为用于构件生产的原始材料的棒料的情况下,随机地使用结构分析方法、例如计算机X射线断层成像,以便感测这种夹杂物的位置和大小。其缺点在于,在使用这种方法时,需要相当高的时间花费并且如果通过这种方法识别出非金属的夹杂物,则将完整的棒作为废品从生产过程中移除,从而使得这种方法的使用带来高成本。
在同样在棒料的情况下所使用的并且用于缺陷感测的其他方法中,待检查的物体放置到浸渗池中并且暴露在超声脉冲中,以便感测钢架构中的缺陷或者说夹杂物。出于物理原因,该方法在探测较大的夹杂物时表现出比较低的可靠性。
发明内容
具有权利要求1的特征的方法具有下述优点:能够快速且可靠地判断构件的质量。为此,所述方法包括下述步骤:a)测量不同质量等级的多个参考构件的振动谱作为参考谱,其中,对于每个参考构件,将对应的参考谱中的频率线和来自对对应的参考构件的结构分析研究中的结果分别相互配属,b)激励待检查构件中的振动,c)测量响应于方法步骤b)发出的振动作为振动谱,和d)将来自该构件的根据方法步骤c)所测量的振动谱中的频率线与来自参考构件的参考谱中的相应的频率线进行比较,以便求取至少一个参考谱,该至少一个参考谱在频率线的幅度方面至少与构件的振动谱不同,并且根据配属于该至少一个参考谱的结构分析研究结果在缺陷的位置和/或大小方面对该构件进行分类。
因此,本发明的基本构思在于,在第一阶段中,借助两个彼此独立地操作且在物理方面以不同方式工作的测量方法对属于待检查构件的结构类型的参考构件进行表征并且基于经验检验将这些测量方法各自的结果相互关联,并且在包括方法步骤b)至d)在内且作为检查阶段与第一阶段分开运行的第二阶段中进行构件检查,其方式是,访问在先前的第一阶段中获得的数据收集,以便——通过将待检查构件的在检查阶段中刚测量的振动谱与参考构件的参考谱进行比较——求取至少一个参考构件,该参考构件的参考谱在频率线方面最接近待检查构件的振动谱;因为来自对该参考构件的结构分析研究中的关于缺陷或夹杂物的位置和/或大小的信息与在数据收集的相应的参考谱中出现单个或者多个频率线相关联,所以这用作用于将待检查构件分类为类别“好”或“差”的量度并且因此用作用于待检查构件中的缺陷的位置和/或大小的量度。这种缺陷能够作为非金属夹杂物或者作为在生产过程期间产生的加工错误而存在。在数据收集中所感测的参考构件数量和质量等级数量越大,则分类所基于的量度就越准确。
根据本发明的方法的一种优选且有利的构型在于,e)相应于一系列待检查构件的数量地多次重复方法步骤b)至d)。由此,根据本发明的方法适用于在如下生产线中使用,在该生产线中重复运行所述检查阶段。与在生产链开始时检验棒状材料的传统方法不同,借助根据本发明的方法能实现,在缺陷方面对在生产线中到达制造过程终点的构件进行检验。
为了进行比较,根据步骤d),求出一方面构件的振动谱的与另一方面参考构件的参考谱的彼此相应的频率线的幅度的对应的差,以便能够根据对应的偏差来分析评价构件的振动谱与最接近的参考构件的参考谱之间的用作用于分类的量度的一致度。
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