[发明专利]探头

说明书

用于进行连接器的特性检查的探头具备柱塞、同轴电缆、凸缘以及外壳，外壳的一侧端部具有从主体部起沿水平方向扩径的扩径部，在凸缘的上表面形成有将贯通孔沿水平方向放大的凹部，用以承接外壳的扩径部，扩径部具有与凸缘的形成凹部的内侧面局部接触或者对置的侧壁、和抵接于凸缘的形成凹部的上表面的底壁，扩径部具有将侧壁与底壁连接的连接面，连接面是从侧壁朝向底壁地向内侧倾斜的倾斜面；或者，凸缘的形成凹部的内侧面具有向斜下方倾斜的第一面，铅垂面是从第一面起向下方延伸并与凸缘的上表面连接的第二面。

技术领域

本发明涉及连接器用探头。

背景技术

以往，公开有用于进行作为被检查体的连接器的特性检查的探头(例如参照专利文献1)。

专利文献1的探头尤其是进行设置有多个端子用以使多个信号流动的多极连接器的特性检查的设备。专利文献1的探头具备能够与多极连接器的多个端子同时接触的多个探针。

专利文献1：日本国际公开第2016/072193号公报

关于连接器的探头，要求提高特性检查的精度。如专利文献1的探头那样，在使多个探针与多个端子分别同时接触的情况下，容易产生端子与探针之间的错位，特性检查的精度容易降低。包含专利文献1所公开那样的探头在内，要求开发能够更高精度地进行连接器的端子的特性检查的技术。

发明内容

因此，本发明的目的在于解决上述问题，提供能够更高精度地进行连接器的端子的特性检查的探头。

为了实现上述目的，本发明的一个方式的探头用于进行连接器的特性检查，其中，具备：凸缘，其具有贯通孔，上述贯通孔配置成沿铅垂方向延伸；同轴电缆，其插通于上述贯通孔并沿轴向延伸，在末端部连接有探针；柱塞，其内包上述探针并且使上述探针的末端暴露；以及外壳，其具有内包上述同轴电缆的筒状的形状，一侧端部与上述凸缘嵌合，另一侧端部安装于上述柱塞，上述外壳具备被插通于上述凸缘的上述贯通孔的筒状的主体部，上述外壳的上述一侧端部具有从上述主体部起沿水平方向扩径的扩径部，在上述凸缘的上表面形成有将上述贯通孔沿水平方向放大的凹部，用以承接上述外壳的上述扩径部，上述扩径部具有与上述凸缘的形成上述凹部的内侧面局部接触或者对置的侧壁、和抵接于上述凸缘的形成上述凹部的上表面的底壁，上述扩径部具有将上述侧壁与上述底壁连接的连接面，上述连接面是从上述侧壁朝向上述底壁地向内侧倾斜的倾斜面；或者，上述凸缘的形成上述凹部的上述内侧面具有向斜下方倾斜的第一面、和从上述第一面起向下方延伸并与上述凸缘的上述上表面连接的作为铅垂面的第二面。

另外，本发明的其他方式的探头用于进行连接器的特性检查，其中，具备：凸缘，其具有贯通孔，上述贯通孔配置成沿铅垂方向延伸的；同轴电缆，其插通于上述贯通孔并沿轴向延伸，在末端部连接有探针；柱塞，其内包上述探针并且使上述探针的末端暴露；以及外壳，其具有内包上述同轴电缆的筒状的形状，一侧端部与上述凸缘嵌合，另一侧端部安装于上述柱塞，上述外壳具备被插通于上述凸缘的上述贯通孔的筒状的主体部，上述外壳的上述一侧端部具有从上述主体部起沿水平方向扩径的扩径部，在上述凸缘的上表面形成有将上述贯通孔沿水平方向放大的凹部，用以承接上述外壳的上述扩径部，上述扩径部具有与上述凸缘的形成上述凹部的内侧面局部接触或者对置的侧壁、和抵接于上述凸缘的形成上述凹部的上表面的底壁，在上述扩径部的上述底壁抵接于上述凸缘的上述上表面的状态下，在上述扩径部的上述侧壁与上述凸缘的上述内侧面之间，形成有用于上述扩径部能够沿上述水平方向移动的间隙。

根据本发明的探头，能够更高精度地进行连接器的端子的特性检查。

附图说明

图1是实施方式1的探头的立体图。

图2是实施方式1的探头的立体图。

图3是表示图2的A-A截面的剖视立体图。

图4是表示图1的B-B截面的剖视立体图。