[发明专利]基于来自一个或多个位置传感器的测量样本表征对象的装置和方法

权利要求书

1.一种用于基于来自一个或多个位置传感器(122)的测量样本(21)来表征对象(130)的装置(120)，所述测量样本(21、22)具有第一空间分辨率，所述装置(120)包括：

处理电路(121)，所述处理电路被配置为将所述测量样本(21)量化至具有小于所述第一空间分辨率的第二空间分辨率的加权单元的栅格地图(1100)，测量样本(21、22)依据测量精度贡献于一个或多个加权单元的权重系数；以及

计算对所述加权单元进行拟合的一条或多条线(23、24)的线参数以获得所述对象(130)的特征。

2.根据权利要求1所述的装置(120)，其中，所述处理电路(120)被配置为基于所述测量样本(21、22)周围的概率分布(1220)确定加权单元的权重系数，所述概率分布(1220)基于所述一个或多个位置传感器(122)的测量精度。

3.根据权利要求2所述的装置(120)，其中，在加权单元的区域中具有相关的非消失概率分布(1220)的测量样本(21、22)增加了所述单元的权重系数。

4.根据前述权利要求中任一项所述的装置(120)，其中，所述处理电路(121)被配置为基于所述加权单元检测所述对象的一个或多个边缘，所述一个或多个边缘对应于所述一条或多条线(23、24)。

5.根据前述权利要求中任一项所述的装置(120)，其中，所述处理电路(121)被配置为计算对所述加权单元进行拟合的两条正交线(23、24)的线参数。

6.根据前述权利要求中任一项所述的装置(120)，其中，所述处理电路(121)被配置为基于加权约束最小二乘法算法并考虑所述一个或多个加权单元的权重系数来计算所述一条或多条线(23、24)的线参数。

7.根据权利要求6所述的装置(120)，其中，所述处理电路(121)被配置为基于归一化系统矩阵的特征向量的计算来计算对应于所述一条或多条线(23、24)的方位的第一和第二线参数，所述归一化系统矩阵包括所述加权单元的归一化坐标，所述归一化坐标被归一化为所述一条或多条线(23、24)的平均坐标。

8.根据权利要求7所述的装置(120)，其中，所述处理电路(121)被配置为基于以下公式计算对应于线j的位置的至少一个另外的线参数c_j，

其中n₁和n₂对应于所述第一和第二线参数，

其中w_j，i是线j的第i个加权单元的权重，

其中A_j是系统矩阵A的相应部分，包括线j的测量样本。

9.根据权利要求6所述的装置(120)，其中，所述处理电路(121)被配置为基于包括所述加权单元的坐标、所述加权单元的权重系数的系统矩阵并基于所述加权单元与所述一条或多条线(23、24)的偏差来计算系统协方差矩阵(921)，该系统协方差矩阵包括各个线参数的方差和不同线参数之间的协方差。

10.根据权利要求9所述的装置(120)，其中，所述处理电路(121)被配置为根据以下公式计算所述系统协方差矩阵(921)∑_sys：

其中A是包括所述测量样本的坐标的系统矩阵，r是包括所述加权单元与所述一条或多条线(23、24)的偏差的向量，∑是包括所述线参数的方差和协方差的矩阵，W是根据以下公式包括对应于所述一条或多条线(23、24)的权重矩阵的矩阵：

其中K是线的数量。