[发明专利]具有校准装置的感应测量装置和方法在审

专利信息
申请号: 201980073083.8 申请日: 2019-10-30
公开(公告)号: CN113167921A 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 谈曦荷;埃贡·齐默尔曼;阿希姆·梅斯特尔;扬·范·德·克鲁克;沃尔特·格拉斯;马库斯·迪克;迈克尔·拉姆 申请(专利权)人: 于利希研究中心有限公司
主分类号: G01V3/10 分类号: G01V3/10;G01V13/00
代理公司: 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 代理人: 董婕;陈文净
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 具有 校准 装置 感应 测量 方法
【说明书】:

发明涉及一种测量装置,其具有用于发送测量信号的发送器(1、2、3)、用于接收对所发送的测量信号的响应的接收器(4)和用于根据所述响应确定测量结果的信号处理装置(7、8、9、18),所述发送器和/或所述接收器具有线圈(3、4、16),所述测量装置具有用于减少对所述测量结果的干扰影响的校准装置,其特征在于,所述校准装置被配置为使得电流脉冲可以从电流源(DC)引入线圈(3、4、16),所述信号处理装置(7、8、9、18)可以利用所述电流脉冲产生的校准信号进行测量值校正,并且可以根据所述响应和测量值校正确定测量结果。本发明还涉及一种测量方法。

技术领域

本发明涉及一种测量装置,该测量装置具有用于发送测量信号的发送器、用于接收对所发送的测量信号的响应的接收器以及用于根据所述响应确定测量结果的信号处理装置。所述发送器和/或所述接收器包括至少一个线圈。所述测量装置包括用于减少对所述测量结果的干扰影响的校准装置。本发明还涉及一种操作所述测量装置的方法。

背景技术

由出版物DE 197 31 560 A1得知一种测量装置,其具有用于发送测量信号的发送器和用于接收对所发送的测量信号的响应的接收器,以定位和识别地球表面的金属弹药体。通过发送器的发送线圈产生时变磁场作为测量信号。通过这种方式,在铁磁弹药体内产生涡流,从而产生二次场。这在接收器的接收线圈中产生定位信号,并对其进行评估。

根据EP 1 289 147 A1,由上述类型的测量装置中的振荡电路产生激励信号作为测量信号。激励信号会受到物体接近或存在的影响。这种影响由测量装置的接收器确定。测量装置对确定的响应进行评估。

出版物DE 10 2009 026 403 A1也公开了一种测量装置,该测量装置具有用于发送测量信号的发送器和用于接收对所发送的测量信号的响应的接收器。所述发送器包括初级电路,所述初级电路包括发送线圈。所述接收器包括具有接收线圈的二次电路。存在一条短路路径,通过该路径,发送线圈可以感应地耦合到接收线圈,以便进行诊断。

出版物WO 2018/014891 A1描述了电磁感应测量系统的校准方法以及适用于该方法的装置。提供了一种校准方法,对于表观电导率的实地测量,该校准方法考虑了可归因于测量装置本身或来自环境且影响测量的影响。该方法允许对电感应系统进行单独校准,并考虑到环境影响。为了校准,在离地面至少两个高度处设置具有至少一个发送器和至少一个接收器的感应测量装置,用正演模型计算表观电导率,然后用反演方法进行优化。

EP 2 657 726 A2公开了一种用于电磁测量介质导电率的方法。交变磁场(一次场)通过发送线圈施加到介质上,使得电流在介质中感应并形成另一交变磁场(二次场),其中二次磁场由接收线圈测量,并由此评估介质的导电率。根据该发明,在发送线圈的位置处直接或间接地测量一次场,并且由此评估一次场对接收线圈位置处的场的贡献。由于叠加原理,一次场和二次场对总场的贡献在二次线圈位置重叠而没有干扰。作为测量信号的二次线圈中感应的电压与总场呈线性关系。因此,如果已知发送线圈位置处的一次场以及发送和接收线圈彼此相对的空间布置,则可以校正一次场的贡献以及其温度相关漂移。

从出版物DE 10 2012 203 111 A1可知用于MRI成像的方法和装置。从出版物US2010/0241389 A1可知与MRI激励有关的系统和方法。出版物US 2011/0115497 A1中公开了一种无线传感器。从出版物US 2005/0190100 A1可知的发明涉及天气雷达校准。控制磁共振系统的方法已知于出版物DE 10 2011 083 959 A1。出版物US 2012/0139776 A1公开了一种获取天线校准参数的方法。

发明内容

本发明旨在通过上述类型的测量装置,使得能够以很少的技术工作进行特别精确的测量。

该任务通过具有第一个权利要求的特征的测量装置来解决。为了解决该任务,一种方法包括附加权利要求的特征。有利的实施方式源于从属权利要求。

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