[发明专利]光学器件边缘密封剂的光泄露检测

权利要求书

1.一种用于检查目镜的检查装置，所述检查装置包括：

台架，其包括表面、开口以及一个或多个反射镜支撑结构，每个反射镜支撑结构支撑相应的反射镜；

光源，其被布置为在所述目镜放置在所述台架的所述表面上时通过所述台架的所述开口将光投射到所述目镜的一部分中；

封闭件，其封闭所述台架和所述光源，以将所述目镜与所述封闭件外部的外界光隔离开；以及

相机，其被布置为通过所述封闭件中的孔捕获所述封闭件内部的至少一个图像，所述至少一个图像包括通过所述目镜的边缘密封剂泄漏且被所述至少一个反射镜反射到所述相机的光的至少一部分。

2.根据权利要求1所述的检查装置，进一步包括：

分析模块，其从所述相机接收所述至少一个图像，并且分析所述至少一个图像以量化通过所述目镜的所述边缘密封剂的光泄露。

3.根据权利要求1所述的检查装置，其中，所述台架进一步包括位于所述开口和所述相机之间的遮挡件，所述遮挡件防止由所述光源投射的光直接到达所述相机。

4.根据权利要求1所述的检查装置，其中，所述一个或多个反射镜支撑结构中的每一个支撑相应的反射镜，所述相应的反射镜相对于所述台架的所述表面成大约45度角设置。

5.根据权利要求1所述的检查装置，其中，所述相机包括远心透镜。

6.根据权利要求1所述的检查装置，其中，从所述光源投射的光包括白光。

7.根据权利要求6所述的检查装置，进一步包括所述目镜。

8.根据权利要求7所述的检查装置，其中，所述目镜包括多个光学层，并且所述边缘密封剂沿着所述目镜的至少一个边缘设置。

9.根据权利要求8所述的检查装置，其中，所述目镜的一部分包括至少一个滤色器，以将所述白光分离成多个色带。

10.根据权利要求9所述的检查装置，其中，所述多个光学层中的每个光学层包括用于所述多个色带中的一色带的波导。

11.根据权利要求9所述的检查装置，其中，所述光被投射到包括至少一个滤色器的所述目镜的所述一部分中。

12.根据权利要求9所述的检查装置，其中，所述至少一个图像包括所述色带中的至少一个的像素，以指示通过与所述多个光学层中的至少一个层对应的所述边缘密封剂的光的泄露。

13.一种检查目镜的方法，所述方法包括：

将目镜放置在限定开口的台架上，其中所述目镜包括沿着所述目镜的至少一个边缘的边缘密封剂；

封闭所述台架，以将所述目镜与封闭件外部的外界光隔离开；

通过所述开口向所述目镜提供来自所述封闭件内部的光源的光；

通过所述封闭件中的孔捕获所述封闭件内部的图像；以及

基于所述图像评估通过所述边缘密封剂来自所述目镜的光泄露。

14.根据权利要求13所述的方法，其中，来自所述光源的光包括白光。

15.根据权利要求14所述的方法，其中，所述目镜包括被配置为将所述白光分离成多个色带的滤色器，并且向所述目镜提供所述光包括向所述滤色器提供所述光。

16.根据权利要求15所述的方法，其中，所述目镜包括多个光学层，所述光学层中的每个层包括用于特定色带的波导，并且所述图像包括至少一个色带的像素，从而指示通过与所述多个光学层中的至少一个层对应的所述边缘密封剂的光的泄露。

17.根据权利要求16所述的方法，进一步包括识别所述多个光学层中发生光泄露的层数。