[发明专利]诊断装置以及诊断系统

权利要求书

1.一种诊断装置，其特征在于，具备：

特征量提取部，其提取在功率变换装置的输出端子上测量到的电压变化率的时间变化量作为特征量，所述功率变换装置使用功率半导体元件将交流电或直流电变换为可变频率和可变电压的交流电；

温度推断部，其根据在不同时刻测量到的作为所述特征量的所述输出端子的电压变化率彼此的差即时间变化量来推断所述功率半导体元件的温度；以及

温度显示部，其显示所述温度推断部推断出的温度。

2.根据权利要求1所述的诊断装置，其特征在于，

所述特征量提取部：

波形提取电路，其提取所述输出端子上的电压波形；

比较电路，其以2个基准电压为基准来确定所述电压波形中的接通时或关断时的电压变化率的时间变化量；以及

时间测量电路，其测量所述电压变化率的时间变化量作为所述特征量，

所述温度推断部根据表示作为所述特征量的所述电压变化率的时间变化量与所述功率半导体元件的温度的相关关系的温度相关信息以及所述特征量，来推断所述功率半导体元件的温度。

3.根据权利要求2所述的诊断装置，其特征在于，

所述温度推断部具有：

存储电路，其能够存储所述温度相关信息；以及

推断处理电路，其根据作为所述特征量的所述电压变化率的时间变化量来推断所述功率半导体元件的温度。

4.根据权利要求1所述的诊断装置，其特征在于，

所述温度推断部通过对所述特征量以及推断出的所述温度赋予时间戳来进行关联管理。

5.根据权利要求2所述的诊断装置，其特征在于，

所述诊断装置从外部与外部解析装置连接，所述外部解析装置向所述温度推断部提供所述温度相关信息，另一方面，接收所述温度推断部推断出的温度来进行解析。

6.根据权利要求5所述的诊断装置，其特征在于，

所述温度推断部向所述特征量以及推断出的所述温度赋予时间戳而作为管理信息加以积存，

所述外部解析装置根据所述管理信息来推断所述功率半导体元件的寿命。

7.根据权利要求6所述的诊断装置，其特征在于，

所述外部解析装置根据所述管理信息来实时预测所述功率半导体元件的寿命。

8.根据权利要求5所述的诊断装置，其特征在于，

具有解析内容设定部，所述解析内容设定部向所述外部解析装置提供所述温度相关信息、表示所述功率变换装置的运行模式的运行模式信息、以及表示所述功率变换装置的功率循环试验的试验结果的功率循环试验信息，另一方面，将输入到所述外部解析装置的各信息设定为用于所述外部解析装置中的解析的信息。

9.一种诊断系统，其特征在于，具备：

至少1台诊断装置，其包含特征量提取部和温度推断部，所述特征量提取部提取在功率变换装置的输出端子上测量到的电压变化率的时间变化量作为特征量，所述功率变换装置使用功率半导体元件将交流电或直流电变换为可变频率和可变电压的交流电，所述温度推断部根据在不同时刻测量到的所述输出端子的电压变化率彼此的差即时间变化量来推断所述功率半导体元件的温度；以及

监视服务器，其经由网络与所述诊断装置连接，根据所述温度推断部推断出的温度来监视所述功率变换装置。

10.一种诊断系统，其特征在于，具备：

至少1台诊断装置，其包含特征量提取部和温度推断部，所述特征量提取部提取在功率变换装置的输出端子上测量到的电压变化率的时间变化量作为特征量，所述功率变换装置使用功率半导体元件将交流电或直流电变换为可变频率和可变电压的交流电，所述温度推断部根据在不同时刻测量到的作为所述特征量的所述输出端子的电压变化率彼此的差即时间变化量来推断所述功率半导体元件的温度；以及

监视服务器，其经由网络与所述诊断装置连接，根据外部解析装置的解析结果来监视所述功率变换装置，所述外部解析装置能够从外部与所述诊断装置连接，并接收所述温度推断部推断出的温度。