[实用新型]一种电导性测试装置

说明书

本实用新型提供了一种电导性测试装置，属于机械技术领域。它解决了现有测试装置使用效果差等技术问题。本电导性测试装置，包括底座，其特征在于，所述底座上设置有测量座一、安装座和测量座二，测量座一和测量座二分别位于安装座两侧，测量座一固定在底座上，测量座二与一调节结构相连接，测量座一和测量座二上还分别固定有若干测量结构，安装座上还设置有若干吸盘结构。本实用新型具有使用效果好的优点。

技术领域

本实用新型属于机械技术领域，涉及一种测试装置，特别是一种电导性测试装置。

背景技术

多晶硅片中的金属杂质大多来源于铸造过程中的坩埚污染造成的，其中原料多晶硅中的金属杂质含量占据主要部分，生产多晶硅中产生的体金属，容易通过精馏方法将其他元素去除，但是无法完全移除，在生产过程中，金属杂质往往会影响多晶硅片的电学性能，在研究金属杂质对多晶硅片电学性能的时，需要对多晶硅片进行测量其电导性指标，在现有技术中，测试装置并不完全适用于多晶硅片，使用效果差，因此设计出一种电导性测试装置是很有必要的。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有的技术存在上述问题，提出了一种电导性测试装置，具有使用效果好的优点。

本实用新型的目的可通过下列技术方案来实现：一种电导性测试装置，包括底座，其特征在于，所述底座上设置有测量座一、安装座和测量座二，测量座一和测量座二分别位于安装座两侧，测量座一固定在底座上，测量座二与一调节结构相连接，测量座一和测量座二上还分别固定有若干测量结构，安装座上还设置有若干吸盘结构。

所述调节结构包括螺纹杆和滑杆，螺纹杆的一端转动设置在底座上，螺纹杆的另一端与调节手把相连接，滑杆固定在底座上，测量座二的一端套设在滑杆上，测量座二的另一端通过螺母和螺纹杆相配合连接。

所述测量结构包括支杆、压片、接触片和压紧螺杆，压片通过若干弹簧一和支杆相连接，支杆上开设有螺纹孔，压紧螺杆穿过螺纹孔且和螺纹孔相配合，压紧螺杆的一端和压片相抵靠，压紧螺杆的另一端连接有调节转盘，接触片固定在压片上，且接触片还与一导电性测试仪相连接。

所述吸盘结构包括吸盘座、吸嘴和若干弹簧二，吸盘座设置在安装座上，且吸盘座与一负压风机相连通，吸盘座上固定有若干下限位杆，吸嘴滑动设置在吸盘座上，吸嘴上固定有与下限位杆相对应的若干上限位杆，弹簧二的一端和吸盘座相连接，弹簧二的另一端和吸嘴相连接，在弹簧二的弹力下，上限位杆和下限位杆相抵靠。

所述吸盘座上还固定有用于防止弹簧二压缩过量的若干限位块。

所述吸嘴采用绝缘材料。

本实用新型的工作原理如下：多晶硅片放置在吸盘结构上，在吸嘴吸力的作用下将多晶硅片固定，通过设置弹簧二、上限位杆和下限位杆，可有效预防多晶硅片压碎，转动调节手把，将测量座二调节至适当位置进行测量，转动调节转盘调节压片的高度，直至接触片和多晶硅片相抵靠。

与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：多晶硅片放置在吸盘结构上，在吸嘴吸力的作用下将多晶硅片固定，通过设置弹簧二、上限位杆和下限位杆，可有效预防多晶硅片压碎，转动调节手把，将测量座二调节至适当位置进行测量，转动调节转盘调节压片的高度，直至接触片和多晶硅片相抵靠，具有使用效果好的优点。

附图说明

图1是本实用新型的平面结构示意图。

图2是本实用新型的剖面结构示意图。

图3是本实用新型的测量结构的平面结构示意图。

图4是本实用新型的吸盘结构的结构示意图。