[实用新型]电子元件成品测试仪的进料装置

说明书

本实用新型公开了一种电子元件成品测试仪的进料装置，应用在电子元件的测试设备技术领域，其技术方案要点是：包括工作台、设置在工作台上的测试仪器和振动盘，所述测试仪器的进口处固定设置有倾斜向上的滑道，所述滑道的顶端与振动盘的出口处相齐平，所述滑道与振动盘的出口处之间设置有水平的软连接带，所述振动盘底部设置有减振装置。本实用新型具有的技术效果是：振动盘与滑道之间软连接，可阻挡振动传递至滑道上，从而保证了测试仪器平稳工作，提高对电子元件测试的精准度。

技术领域

本实用新型涉及电子元件的测试设备技术领域，特别涉及一种电子元件成品测试仪的进料装置。

背景技术

电子元件加工成型后，需对电子元件成品进行测试，以鉴定电子元件成品的品质，根据测试结果将电子元件成品分成多个档次，并对其进行分类，筛选出合格成品，剔除掉次品。

公告号为CN203711359U的中国专利公开了一种发热元件片的自动测试分选机，其结构包括设置在机架上且由PLC逻辑控制器控制的上料机构、送料机构、测试机构和分选机构组成，测试机构包括测试仪，与测试仪连接的测件装置以及人机界机操作台，测件装置包括用于夹住待测料的挡料块，在挡料块的侧边设置有测试针、在挡料块的上端设置有检料光纤探头。

上述中的现有技术方案存在以下缺陷：现有的自动测试分选机，电子元件上料是通过振动盘振动将电子元件送至皮带上，然而振动盘是直接与皮带送料结构接触连接的，振动盘会将振动传递至皮带送料结构上，导致整个机架振动，影响电子元件测试结果。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种电子元件成品测试仪的进料装置，其优点是：振动盘与滑道之间软连接，可阻挡振动传递至滑道上，从而保证了测试仪器平稳工作，提高对电子元件测试的精准度。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种电子元件成品测试仪的进料装置，包括工作台、设置在工作台上的测试仪器和振动盘，所述测试仪器的进口处固定设置有倾斜向上的滑道，所述滑道的顶端与振动盘的出口处相齐平，所述滑道与振动盘的出口处之间设置有水平的软连接带，所述振动盘底部设置有减振装置。

通过上述技术方案，电子元件经振动盘振动送至软连接带上，经过软连接带后，顺着滑道向下滑动至测试仪器内，以实现电子元件的上料工作，设置的软连接带具有弹性伸缩功能，使得振动盘与滑道之间软连接，在保证了振动盘工作过程中因振动而对滑道产生伸缩量的同时，还能够有效阻挡振动传递至滑道上，从而保证了测试仪器工作的平稳性，提高对电子元件测试的精准度；另外，在振动盘底部设置减振装置，可有效减轻振动盘传递至工作台的振动，进而也保证了测试仪器工作的平稳性，提高对电子元件测试的精准度。

本实用新型进一步设置为：所述滑道的顶端趋于水平，在所述滑道顶端的水平部分及振动盘的出口处均开设有沉槽，所述软连接带的两端分别粘接在两个沉槽内，且所述软连接带的上表面与滑道顶端水平部分的上表面及振动盘出口处的上表面相齐平。

通过上述技术方案，软连接带的两端固定置于两侧的沉槽内，可保证软连接带平滑连接在振动盘与滑道之间，即软连接带上表面与滑道顶端水平部分的上表面及振动盘出口处的上表面相齐平，从而有助于电子元件能够顺利地向前移动，以防电子元件在软连接带与振动盘和滑道连接处受阻，影响上料工作的顺利进行。

本实用新型进一步设置为：所述软连接带下方沿长度方向设置有托架，所述托架沿长度方向转动连接有若干与软连接带下表面相接触的托辊，所述托架下方设置有用于支撑托架的支架。

通过上述技术方案，由于在电子元件重力作用下，压住软连接带会致使软连接带向下凹陷，同时当振动盘振动有靠近滑道的趋势时，会导致软连接带松弛，此时在软连接带自身重力及电子元件重力作用下，也会出现向下凹陷的情况，影响电子元件顺利前行，通过在软连接带下方设置托辊，用于支撑住软连接带，可有效防止软连接带因各种原因向下凹陷，进而保证了电子元件顺利前行。