[实用新型]一种基于万向工具系统的四反镜抛光测量装置有效

专利信息
申请号: 201922243327.2 申请日: 2019-12-14
公开(公告)号: CN211639340U 公开(公告)日: 2020-10-09
发明(设计)人: 冀世军;孙仍权;赵继;张明星;代汉达;贺秋伟 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: B24B13/00 分类号: B24B13/00;B24B47/20;B24B49/12;B24B13/005
代理公司: 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 代理人: 魏征骥
地址: 130012 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 万向 工具 系统 四反镜 抛光 测量 装置
【说明书】:

本实用新型涉及一种基于万向工具系统的四反镜抛光测量装置,属于机械制造技术领域。X向移动装置固定于床底座左端中部、A轴旋转工作台固定于X向移动装置上,磨抛测量模组固定于A轴旋转工作台上,四反镜固定于专用夹具上,专用夹具固定于C轴旋转工作台上,C轴旋转工作台固定于Z向移动装置上,Z向移动装置固定于Y向移动装置上,Y向移动装置固定于机床底座上。优点在于:磨头进入四反镜共体光学系统腔内之后,可以垂直抛光点表面,再对该光学曲面进行加工,可以完成对四反镜共体光学系统中所有光学元件的磨抛加工,这样既完成了对四反镜共体光学系统的加工,还大大提高了加工效率和加工精度,增加了该装备的通用性。

技术领域

本实用新型属于机械制造技术领域,具体涉及一种基于万向工具系统的四反镜抛光测量装备及加工控制方法。

背景技术

随着光学技术的不断发展,继平面光学元件和球面光学元件之后,对于非球面光学元件和自由曲面光学元件的需求也日益增大,而自由光学系统的研究制造也成为焦点,由于自由光学系统中各光学元件在安装时会出现相对位置误差,因此为了提高自由光学系统中各个光学元件相对位置精度,出现了共体光学系统。四反镜为其中一种共体光学系统,而现有的磁流变抛光、气囊抛光、离子束抛光等光学元件加工方式,由于受自身限制,对四反镜加工时,不仅抛光加工效率很低,甚至出现无法对四反镜进行抛光加工。

发明内容

本实用新型提供一种基于万向工具系统的四反镜抛光测量装置,以解决四反镜共体光学系统中,各个光学元件加工困难,加工效率不高,甚至无法加工的问题。

本实用新型采取的技术方案是:包括包括机床底座、X向移动装置、A轴旋转工作台、磨抛测量模组、四反镜、专用夹具、C轴旋转工作台、Z向移动装置和Y向移动装置,其中X向移动装置固定于床底座1左端中部、A轴旋转工作台固定于X向移动装置上,磨抛测量模组固定于A轴旋转工作台上,四反镜固定于专用夹具上,专用夹具固定于C轴旋转工作台上,C轴旋转工作台固定于Z向移动装置上,Z向移动装置固定于Y向移动装置上,Y向移动装置固定于机床底座上。

本实用新型所述A轴旋转工作台和C轴旋转工作台结构相同,其中,A轴旋转工作台包括工作平台、心轴驱动系统、圆形底座和工作台外壳,其中工作平台与工作台外壳转动连接,心轴驱动系统与工作平台固定连接,并且与工作台外壳转动连接,圆形底座固定于X向移动装置上,工作台外壳与圆形底座固定连接。

本实用新型所述X向移动装置与Y向移动装置结构相同,其中,X向移动装置包括移动固定底座一、导轨一、旋转工作台安装板一、光栅传感器一和进给驱动装置一,其中移动固定底座一固定于机床底座,导轨一固定于移动固定底座一前后两侧,旋转工作台安装板一与进给驱动装置一固定连接,且前后两侧由导轨一支撑,光栅传感器一固定于移动固定底座一左侧,位于导轨一和进给驱动装置一之间,进给驱动装置一固定于移动固定底座一中间;

本实用新型所述导轨一与导轨二结构相同,其中,导轨一包括轨道、滑块挡板、和滑块体,轨道固定于移动固定底座一上,滑块挡板固定于滑块体上,滑块体与轨道滑动连接。

本实用新型所述光栅传感器一与光栅传感器二结构相同,其中,光栅传感器一包括光栅尺、光栅测头一和测头安装块,光栅尺固定于移动固定底座一上,光栅测头一固定于测头安装块上,测头安装块固定于旋转工作台安装板一上;

本实用新型所述进给驱动装置一和进给驱动装置二结构相同,其中,进给驱动装置一包括左支撑座、进给丝杆、进给驱动块、右支撑座、联轴器二和伺服驱动电机,左支撑座固定于移动固定底座一上,进给丝杆左端与左支撑座转动连接,其右端与右支撑座转动连接,进给驱动块与进给丝杆通过滚珠丝杆副连接,右支撑座固定于移动固定底座一上,联轴器二左端与进给丝杆固定连接,其右端与伺服驱动电机固定连接,伺服驱动电机固定于移动固定底座一上。

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