[实用新型]一种基于核心板老化测试系统

说明书

本实用新型公开了一种基于核心板老化测试系统，包括若干路电源控制电路、若干路电流检测电路、若干路系统监测电路和MCU；每一路电源控制电路包括依次相连的工作电源、继电器LS及其控制电路、采样电阻R1和一个核心板，所述继电器LS用于控制核心板与工作电源的接通与断开；每一路电流检测电路连接一路电源控制电路，用于测量采样电阻R1的电流值，并将该电流值反馈至MCU以控制继电器LS的状态；每一路系统监测电路通过串口监测一个核心板的系统运行状况。该老化测试系统自动化测试核心板老化能力，同时避免瞬间的大电流击穿核心板的芯片，减小核心板在老化检测的损失成本。

技术领域

本实用新型涉及仪器测试技术领域，具体涉及为一种基于核心板老化测试系统。

背景技术

现今采用核心板制作嵌入式产品的方式越发普遍。核心板是将处理器的核心功能打包封装在一块电子主板上，大多数核心板集成了CPU、存储器及通用的功能引脚等，其缩短了开发周期，简化了开发难度，降低了开发成本投入。然而，核心板的稳定性和易维护性在嵌入式产品的开发中占据重要位置，因此核心板通过老化测试来检测核心板系统的稳定性，避免嵌入式产品因核心板的质量问题造成较大损失。在现有的核心板老化测试中，因核心板存在质量问题容易导致电流过大击穿主要芯片或长时间过热损坏芯片。芯片作为核心板最为重要的元件，其占核心板制作成本的40%～60%，所以保护核心板在老化测试过程中不被损坏是很必要的。

实用新型内容

为了克服上述对核心板进行老化测试时容易烧毁芯片的技术缺陷，本实用新型提供一种基于核心板老化测试系统，自动化测试核心板老化能力，同时避免瞬间的大电流击穿核心板的芯片，减小核心板在老化检测的损失成本。

为了解决上述问题，本实用新型按以下技术方案予以实现的：

本实用新型所述一种基于核心板老化测试系统，包括若干路电源控制电路、若干路电流检测电路、若干路系统监测电路和MCU；

每一路电源控制电路包括依次相连的工作电源、继电器LS及其控制电路、采样电阻R1和一个核心板，所述继电器LS用于控制核心板与工作电源的接通或断开；

每一路电流检测电路连接一路电源控制电路，用于测量采样电阻R1的电流值，并将该电流值反馈至MCU，MCU通过IO口控制继电器LS的状态；

每一路系统监测电路通过串口监测一个核心板的系统运行状况。

进一步地，还包括若干路电压转换电路，

每一路电压转换电路连接一路电源控制电路，用于将连接外部的输入电源转换为工作电源。

进一步地，所述输入电源的电压为12V，所述工作电源的电压为5V或3.3V。

进一步地，所述继电器LS的控制电路包括PNP型三极管Q1、NPN型三级管Q2、上拉电阻R11、下拉电阻R12、限流电阻R13和限流电阻R14，其中，

所述上拉电阻R11一端接入继电器LS工作电压后连接PNP型三极管Q1的发射极，所述上拉电阻R11另一端连接PNP型三极管Q1的基极，用于给PNP型三极管Q1提供基极偏置电压，使PNP型三极管Q1处于截止状态；

所述限流电阻R13一端连接PNP型三极管Q1的基极，所述限流电阻R13另一端连接NPN型三极管Q2的集电极，用于保护NPN型三极管Q2不被过大电流击穿；

所述限流电阻R14一端连接NPN型三极管Q2的基极，所述限流电阻R14另一端连接MCU的IO口，用于保护MCU的IO口不被过流击穿；

所述下拉电阻R12一端连接MCU的IO口，另一端接数字地，用于在不确定电平状态或高阻态时确保MCU的IO口为低电平，增强干扰能力。