[实用新型]长波长GaInNAs/InGaAs复合量子点垂直腔面发射激光器有效
申请号: | 201922134675.6 | 申请日: | 2019-12-02 |
公开(公告)号: | CN210693015U | 公开(公告)日: | 2020-06-05 |
发明(设计)人: | 黄珊珊;黄辉廉;文宏;叶旺;刘建庆 | 申请(专利权)人: | 中山德华芯片技术有限公司 |
主分类号: | H01S5/183 | 分类号: | H01S5/183;H01S5/30 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 冯炳辉 |
地址: | 528437 广东省中山*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 波长 gainnas ingaas 复合 量子 垂直 发射 激光器 | ||
1.长波长GaInNAs/InGaAs复合量子点垂直腔面发射激光器,包括GaAs衬底,其特征在于:所述GaAs衬底为n型单晶片,即n型GaAs衬底,在所述n型GaAs衬底上表面按照层状叠加结构由下至上依次设置有n型GaAs缓冲层、n型DBR、非掺杂量子点有源层和p型DBR,在所述p型DBR上制备有上电极,在所述n型GaAs衬底的下表面制备有下电极;其中,所述非掺杂量子点有源层由非掺杂GaInNAs/InGaAs复合量子点和非掺杂GaAs势垒层混合而成,所述非掺杂GaInNAs/InGaAs复合量子点区分有内、外两部分,其内部为呈3D岛状结构的GaInNAs量子点,其外部为InGaAs包覆层,所述InGaAs包覆层包覆GaInNAs量子点,通过调整InGaAs包覆层中的铟的含量来缓冲GaInNAs量子点与非掺杂GaAs势垒层间由晶格常数差异导致的应力,通过调整GaInNAs量子点中的氮及铟的含量来控制激光器的发射波长达到1.31至1.55μm。
2.根据权利要求1所述的长波长GaInNAs/InGaAs复合量子点垂直腔面发射激光器,其特征在于:所述GaInNAs量子点的生长温度在480~520℃,直径3nm至30nm。
3.根据权利要求1所述的长波长GaInNAs/InGaAs复合量子点垂直腔面发射激光器,其特征在于:所述InGaAs包覆层的生长温度在480~520℃,厚度为3nm至30nm。
4.根据权利要求1所述的长波长GaInNAs/InGaAs复合量子点垂直腔面发射激光器,其特征在于:所述非掺杂GaAs势垒层的厚度为5nm至50nm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中山德华芯片技术有限公司,未经中山德华芯片技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201922134675.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。