[实用新型]用于测量微纳颗粒的装置有效

专利信息
申请号: 201922061879.1 申请日: 2019-11-22
公开(公告)号: CN211122429U 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 熊贵;柳可;王哲 申请(专利权)人: 瑞芯智造(深圳)科技有限公司
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G01N15/02;G01N15/06
代理公司: 深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司 44232 代理人: 刘抗美
地址: 518000 广东省深圳市龙华区观澜*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 颗粒 装置
【说明书】:

本实用新型揭示了一种用于测量微纳颗粒的装置,该装置包括:第一腔室、微孔膜、电泳槽和第二腔室,其中所述微孔膜位于所述第一腔室与所述电泳槽之间,并且所述微孔膜上具有微孔,所述第一腔室与所述电泳槽通过所述微孔相连通;所述第二腔室与所述电泳槽相邻,并具有位于所述第二腔室与所述电泳槽之间的第一侧壁,所述第一侧壁上具有用于连通所述第二腔室与所述电泳槽的第一开口;所述微孔的内径小于所述电泳槽的内径,所述电泳槽的内径小于所述第二腔室的内径;所述第一腔室具有第一电极,所述第二腔室具有第二电极。本实用新型的技术方案能够测量溶液中单颗微纳颗粒的属性。

技术领域

本实用新型涉及微纳颗粒测量技术领域,具体而言,涉及一种用于测量微纳颗粒的装置。

背景技术

基于颗粒物质的特殊属性,颗粒物质被广泛地应用于医药、化工、材料等领域,因此在颗粒物质的应用中,对于颗粒物质(以下简称为颗粒)属性的测量十分重要。

目前,常用的颗粒测量设备包括光学显微镜、扫描电子显微镜和透射电子显微镜,但由于光学显微镜分辨率较低,使用光学显微镜很难观测到尺寸小于300纳米的颗粒,不适用于微纳颗粒的测量,扫描电子显微镜和透射电子显微镜虽然具有超高的分辨率,但其检测环境需为真空状态,不能测量颗粒在溶液中的属性,从而无法测量微纳颗粒在活体条件下的属性。常用的颗粒测量方法包括动态光散射法,其能够快速地进行大规模的颗粒检测,但不能提取单颗颗粒的特征。

因此,现有技术中仍存在无法测量单颗微纳颗粒在活体条件下的属性的问题。

发明内容

为解决上述技术问题,本实用新型提供一种用于测量微纳颗粒的装置,用以对单颗微纳颗粒在活体条件下的属性进行检测。

其中,本实用新型所采用的技术方案为:

一种用于测量微纳颗粒的装置,包括第一腔室、微孔膜、电泳槽和第二腔室,其中,所述微孔膜位于所述第一腔室与所述电泳槽之间,并且所述微孔膜上具有微孔,所述第一腔室与所述电泳槽通过所述微孔相连通;所述第二腔室与所述电泳槽相邻,并具有位于所述第二腔室与所述电泳槽之间的第一侧壁,所述第一侧壁上具有用于连通所述第二腔室与所述电泳槽的第一开口;所述微孔的内径小于所述电泳槽的内径,所述电泳槽的内径小于所述第二腔室的内径;所述第一腔室具有第一电极,所述第二腔室具有第二电极。

在另一示例性实施例中,所述电泳槽的内径为所述微孔的内径的2倍或以上,所述电泳槽的长度为所述微孔膜的厚度的2倍或以上。

在另一示例性实施例中,所述微孔的内径为1纳米至10微米,所述电泳槽的内径为2纳米至20微米。

在另一示例性实施例中,所述微孔膜的厚度为1纳米至10微米,所述电泳槽的长度为2纳米至20微米。

在另一示例性实施例中,所述第一开口的内径等于所述电泳槽的内径。

在另一示例性实施例中,在测量状态下,所述第一腔室、所述电泳槽和所述第二腔室中填充有电解液,待测量的微纳颗粒随着所述电解液通过所述微孔和所述电泳槽。

在另一示例性实施例中,所述装置还包括液体驱动器,所述液体驱动器与所述第二腔室相邻,并且位于与所述第一侧壁相邻或者相对的侧壁上,用于驱动所述装置内的液体流动。

在另一示例性实施例中,所述微孔膜是无机膜。

在另一示例性实施例中,所述微孔膜与所述第一腔室、所述电泳槽和所述第二腔室是一体成型的。

在另一示例性实施例中,所述微孔的中心与所述第一开口的中心平行于所述电泳槽的长度方向。

在另一示例性实施例中,所述电泳槽的形状为圆柱体、长方体、锥形台、梯形台中的任意一种。

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