[实用新型]一种能实现快速对位的测试架

说明书

本实用新型公开了一种能实现快速对位的测试架，涉及PCB测试架技术领域。该测试架包括上模针盘和下模针盘，还包括至少2组对位件，所述对位件包括套管和套柱；所述套管设于下模针盘，所述套柱设于上模针盘；所述下模针盘和上模针盘对位合模时，各组所述套柱套入所述套管内。本实用新型在现有的测试架结构设计上，根据测试架尺寸可选择地增加2组、4组或6组对位件，用于改善常规对位方式误差大的情况，同时可以有效提高高密度的板子的测试良率。

技术领域

本实用新型涉及PCB测试架技术领域，尤其涉及一种能实现快速对位的测试架。

背景技术

市售的复合型测试架均采用伞型弹簧PIN进行对位，由于类PIN对位精度低、误差较大，导致复合型测试架在每次使用时需要花费较长的时间来进行校准对位，对于高密度的板子误测率也比较高，影响生产的效率。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是现有的复合型测试架对位精度差，导致调模时间长，对于高密度的板子容易出现误测。

为了解决上述问题，本实用新型提出以下技术方案：

一种能实现快速对位的测试架，包括上模针盘和下模针盘，还包括至少2组对位件，所述对位件包括套管和套柱；所述套管设于下模针盘，所述套柱设于上模针盘；所述下模针盘和上模针盘对位合模时，各组所述套柱套入所述套管内。

进一步地，所述套柱与上模针盘通过螺丝固定。

进一步地，所述套管包括相连的基座和管体，所述管体中空，以容纳所述套柱；所述基座与下模针盘固定。

进一步地，所述基座和管体一体成型。

进一步地，所述基座的外径大于管体的外径。

进一步地，所述下模针盘设有容纳基座的容纳槽，所述基座卡在所述容纳槽中与下模针盘固定。

进一步地，所述对位件的数量为3、4或6。

与现有技术相比，本实用新型所能达到的技术效果包括：在现有的测试架结构设计上，根据测试架尺寸可选择地增加2组、3组、4组或6组对位件，用于改善常规对位方式误差大的情况，同时可以有效提高高密度的板子的测试良率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的能实现快速对位的测试架的截面爆炸结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的能实现快速对位的测试架的截面结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的对位件结构示意图。

附图标记

下模针盘1，上模针盘2，套管3，基座31，管体32，套柱4，螺丝5，容纳槽6，盖板7。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，附图中类似的组件标号代表类似的组件。显然，以下将描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。