[实用新型]基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置有效

专利信息
申请号: 201922028138.3 申请日: 2019-11-21
公开(公告)号: CN211602927U 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 柏财勋;范文慧;畅晨光;李立波;胡炳樑;冯玉涛 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45;G01J3/45
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 王少文
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 双谱段叠层 干涉 光谱 成像 装置
【权利要求书】:

1.一种基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置,其特征在于:

包括沿光路依次设置的前置成像物镜(1)、光阑(2)、准直物镜(3)、双谱段叠层干涉模块(4)、液晶偏振开关(5)、后置成像物镜(6)以及面阵探测器(7);

所述双谱段叠层干涉模块(4)包括偏振分光棱镜BS、短波剪切器以及长波剪切器;所述短波剪切器设置在偏振分光棱镜BS的反射光路方向;所述长波剪切器设置在偏振分光棱镜BS的透射光路方向;

所述短波剪切器包括沿光路依次设置的第一滤光片F1、第一半波片HP1、第一沃拉斯顿棱镜WP1以及第一角锥棱镜R1;所述长波剪切器包括沿光路依次设置的第二滤光片F2、第二半波片HP2、第二沃拉斯顿棱镜WP2以及第二角锥棱镜R2

所述第一滤光片F1和第二滤光片F2均为带通滤光片,其中一个透射短波谱段,截止长波谱段;另一个透射长波谱段,截止短波谱段;

所述第一沃拉斯顿棱镜WP1的内部结构角与第二沃拉斯顿棱镜WP2的内部结构角数值,所述第一沃拉斯顿棱镜WP1距离第一角锥棱镜R1的长度与第二沃拉斯顿棱镜WP2距离第二角锥棱镜R2的长度数值,二者中有一组相等或者两组均不相等;

所述液晶偏振开关(5)包括沿光路依次设置的铁电液晶FLC和线偏振器P。

2.根据权利要求1所述的基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置,其特征在于:所述第一滤光片F1透射短波谱段,截止长波谱段;所述第二滤光片F2透射长波谱段,截止短波谱段。

3.根据权利要求1或2所述的基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置,其特征在于:

所述第一半波片HP1和第二半波片HP2均为消色差半波片;

定义:偏振分光棱镜BS的反射光路方向为x轴正向,偏振分光棱镜BS的透射光路方向为z轴正向,x轴与z轴所确定平面的法线方向为y轴方向;则第一半波片HP1的快轴垂直于所述x轴,与所述y轴夹角为22.5°;第二半波片HP2的快轴垂直于z轴,与x轴夹角为22.5°。

4.根据权利要求3所述的基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置,其特征在于:所述第一角锥棱镜R1和第二角锥棱镜R2为实体角锥棱镜或中空角锥棱镜。

5.根据权利要求4所述的基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置,其特征在于:

所述铁电液晶FLC工作时相位延迟量等效于所述消色差半波片;

所述铁电液晶FLC的控制电压为高电平时,铁电液晶FLC的快轴方向平行于z轴,铁电液晶FLC的控制电压为低电平时,铁电液晶FLC的快轴方向垂直于x轴,与y轴夹角为45°。

6.根据权利要求5所述的基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置,其特征在于:所述线偏振器P为线偏振片或者格兰泰勒棱镜;所述线偏振器P透振方向平行于z轴。

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