[实用新型]基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置有效
| 申请号: | 201922028138.3 | 申请日: | 2019-11-21 |
| 公开(公告)号: | CN211602927U | 公开(公告)日: | 2020-09-29 |
| 发明(设计)人: | 柏财勋;范文慧;畅晨光;李立波;胡炳樑;冯玉涛 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45;G01J3/45 |
| 代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 王少文 |
| 地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 双谱段叠层 干涉 光谱 成像 装置 | ||
1.一种基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置,其特征在于:
包括沿光路依次设置的前置成像物镜(1)、光阑(2)、准直物镜(3)、双谱段叠层干涉模块(4)、液晶偏振开关(5)、后置成像物镜(6)以及面阵探测器(7);
所述双谱段叠层干涉模块(4)包括偏振分光棱镜BS、短波剪切器以及长波剪切器;所述短波剪切器设置在偏振分光棱镜BS的反射光路方向;所述长波剪切器设置在偏振分光棱镜BS的透射光路方向;
所述短波剪切器包括沿光路依次设置的第一滤光片F1、第一半波片HP1、第一沃拉斯顿棱镜WP1以及第一角锥棱镜R1;所述长波剪切器包括沿光路依次设置的第二滤光片F2、第二半波片HP2、第二沃拉斯顿棱镜WP2以及第二角锥棱镜R2;
所述第一滤光片F1和第二滤光片F2均为带通滤光片,其中一个透射短波谱段,截止长波谱段;另一个透射长波谱段,截止短波谱段;
所述第一沃拉斯顿棱镜WP1的内部结构角与第二沃拉斯顿棱镜WP2的内部结构角数值,所述第一沃拉斯顿棱镜WP1距离第一角锥棱镜R1的长度与第二沃拉斯顿棱镜WP2距离第二角锥棱镜R2的长度数值,二者中有一组相等或者两组均不相等;
所述液晶偏振开关(5)包括沿光路依次设置的铁电液晶FLC和线偏振器P。
2.根据权利要求1所述的基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置,其特征在于:所述第一滤光片F1透射短波谱段,截止长波谱段;所述第二滤光片F2透射长波谱段,截止短波谱段。
3.根据权利要求1或2所述的基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置,其特征在于:
所述第一半波片HP1和第二半波片HP2均为消色差半波片;
定义:偏振分光棱镜BS的反射光路方向为x轴正向,偏振分光棱镜BS的透射光路方向为z轴正向,x轴与z轴所确定平面的法线方向为y轴方向;则第一半波片HP1的快轴垂直于所述x轴,与所述y轴夹角为22.5°;第二半波片HP2的快轴垂直于z轴,与x轴夹角为22.5°。
4.根据权利要求3所述的基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置,其特征在于:所述第一角锥棱镜R1和第二角锥棱镜R2为实体角锥棱镜或中空角锥棱镜。
5.根据权利要求4所述的基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置,其特征在于:
所述铁电液晶FLC工作时相位延迟量等效于所述消色差半波片;
所述铁电液晶FLC的控制电压为高电平时,铁电液晶FLC的快轴方向平行于z轴,铁电液晶FLC的控制电压为低电平时,铁电液晶FLC的快轴方向垂直于x轴,与y轴夹角为45°。
6.根据权利要求5所述的基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置,其特征在于:所述线偏振器P为线偏振片或者格兰泰勒棱镜;所述线偏振器P透振方向平行于z轴。
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