[实用新型]一种用于开尔文四线法测量的双线同轴电缆组件

说明书

本实用新型公开了一种可用于开尔文四线法测量的双线同轴电缆组件，包括SMA母头一、射频同轴软电缆、固定金属套管、铜芯导线、杜邦头和SMA母头二；所述SMA母头一内的导体分别与射频同轴软电缆一端内的导体、铜芯导线焊接，铜芯导线除焊接点以外的部分与同轴电缆绝缘；所述固定金属套管推入SMA母头一并压装固定；铜芯导线的另一端安装杜邦头，射频同轴软电缆另一端安装SMA母头二。其优点在于，两组该双线同轴电缆组件可用于同轴开关某通路或转接器阻值作开尔文四线法测量，消除同轴电缆对被测阻值影响。

技术领域

本技术属于电气测量领域，具体涉及一种用于开尔文四线法测量的双线同轴电缆组件。

背景技术

目前公知的，测量mΩ级别的微小电阻值应使用开尔文四线法，由高电位施加线HS、低电位施加线LS提供测试通路电流，两条数据采集线S+、S-采集被测电阻两端电压。在测量同轴开关或转接器等电性能指标的应用中，会有需要测量通路电阻值的场景，同轴开关接触电阻或转接器直通电阻皆为mΩ级。现有的方法测试上述阻值时，需要在微电阻测试装置内将HS与S+连接，LS与S-连接，而后通过同轴电缆转接入同轴开关或转接器的两个端口，因此，需要将测试值减掉两条同轴电缆的阻值得到被测开关接触电阻或转接器直通电阻。

发明内容

为克服上述问题，本技术提供一种可以消除同轴电缆对被测阻值影响的测量组件，其技术方案为：

一种用于开尔文四线法测量的双线同轴电缆组件，包括SMA母头一、射频同轴软电缆、固定金属套管、铜芯导线、杜邦头和SMA 母头二；SMA母头一内导体分别与射频同轴软电缆一端内导体、铜芯导线焊接，铜芯导线除焊接点以外的部分与射频同轴软电缆绝缘；铜芯导线的另一端安装杜邦头，射频同轴软电缆另一端安装SMA母头二；固定金属套管推入SMA母头一、SMA母头二压装固定。

优选的，铜芯导线与SMA母头一外导体绝缘。

优选的，SMA母头一优选窗式射频接头，铜芯导线从SMA母头一开窗处与SMA母头一内导体焊接。

优选的，固定金属套管和铜芯导线用热缩套管固定。

优选的，射频同轴软电缆优ENVIROFLEX_178_D。

优选的，杜邦头规格优选2.54mm。

有益效果：两组该双线同轴电缆组件可用于同轴开关某通路或转接器阻值作开尔文四线法测量，消除同轴电缆对被测阻值影响。

附图说明

图1为现有技术的测量示意图；

图2为本技术组装图；

图3为本技术测量示意图；

其中：1-SMA母头一；11-SMA母头一内导体；12-SMA母头一外导体；2-SMA母头二；3-射频同轴软电缆；31-射频同轴软电缆内导体；4-铜芯导线；5-固体金属套管；6-杜邦头。

具体实施方式

下面结合附图1-3和实例对本技术作进一步说明：

下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。

一种用于开尔文四线法测量的双线同轴电缆组件，包括SMA母头一1、射频同轴软电缆3、铜芯导线4、固定金属套管5、杜邦头6 和SMA母头二2；SMA母头一内导体11分别与射频同轴软电缆一端内导体31、铜芯导线4一端焊接，铜芯导线4除焊接点以外的部分与射频同轴软电缆3绝缘；铜芯导线4的另一端安装杜邦头6，射频同轴软电缆3另一端安装SMA母头二2，固定金属套管5分别推入 SMA母头一、SMA母头二2压装固定。