[实用新型]一种OCP转PCIE标准卡用转接卡

说明书

本实用新型公开的一种OCP转PCIE标准卡用转接卡，包括转接卡和滑轨，所述转接卡上端设有支撑部，支撑部左右对称地设有两个，所述滑轨安装在支撑部上，所述滑轨与OCP板卡侧边配合，所述转接卡下端设有金手指，所述转接卡下端与滑轨对应的位置设有连接器，将待测DUT OCP板卡插接到转接卡上的连接器，将转接卡的金手指插入PCIE CBB测试治具上，CBB上电后实现OCP3.0板卡的信号测试。可以将OCP3.0板卡的PCIE信号引出，连接到PCIE标准测试治具CBB上，实现OCP板卡PCIE TX信号的测试，从而更好的保证OCP板卡性能。

技术领域

本实用新型涉及OCP测试技术领域，具体地说是一种OCP转PCIE标准卡用转接卡。

背景技术

数据中心是需要高成本、高投入，高维护的产业，硬件设计要求高，开放起来更是困难重重。而OCP的诞生，目的是打造了更低成本的数据中心，也将协助提供开源硬件和数据中心设计，推动硬件开放的脚步，OCP设备也在逐步更新升级，目前已经发展到了OCP3.0技术。

但是现在并没有OCP板卡相关的测试方案，OCP 3.0PCIE TX信号无法测试，只能通过测试RX信号，查看margin来进行预估，无法实现OCP信号的准确测试，无法保障OCP3.0板卡的电性能特性。

实用新型内容

本实用新型的目的在于解决上述问题，提供一种OCP转PCIE标准卡用转接卡，可以将OCP3.0板卡的PCIE信号引出，连接到PCIE标准测试治具CBB上，实现OCP板卡PCIE TX信号的测试，从而更好的保证OCP板卡性能。

本实用新型解决其技术问题所采取的技术方案是：

一种OCP转PCIE标准卡用转接卡，包括转接卡和滑轨，所述转接卡上端设有支撑部，支撑部左右对称地设有两个，所述滑轨安装在支撑部上，所述滑轨与OCP板卡侧边配合，所述转接卡下端设有金手指，所述转接卡下端与滑轨对应的位置设有连接器。

进一步地，所述滑轨包括连接头和滑槽，连接头位于滑槽外侧一端，OCP板卡侧边与滑槽配合。

进一步地，所述支撑部上设有连接孔，所述滑轨上的连接头与支撑部连接。

进一步地，所述滑槽上端设有第一倒角。

进一步地，所述滑槽内侧设有第二倒角。

进一步地，所述滑轨上下两端均设有减重槽。

进一步地，所述滑轨外侧一端设有连接板，连接板上设有长条孔。

本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型设计转接卡，所述转接卡下端设有金手指，所述转接卡下端与滑轨对应的位置设有连接器，将待测DUT OCP板卡插接到转接卡上的连接器，将转接卡的金手指插入PCIE CBB测试治具上，CBB上电后实现OCP3.0板卡的信号测试。可以将OCP3.0板卡的PCIE信号引出，连接到PCIE标准测试治具CBB上，实现OCP板卡PCIE TX信号的测试，从而更好的保证OCP板卡性能。

2、本实用新型设有滑轨，所述转接卡上端设有支撑部，结构采用U型设计，可以将OCP3.0网卡完全包住，实现更稳定的接触，支撑部左右对称地设有两个，所述滑轨安装在支撑部上，所述滑轨与OCP板卡侧边配合，滑轨方便待测DUT OCP3.0板卡的插接，避免插接不稳定，实现待测DUT OCP3.0板卡垂直方向的定位，避免板卡的歪斜，同时也是对待测板卡的保护，延长板卡寿命。

3、本实用新型中滑槽内侧设有第二倒角，第二倒角方便将OCP板卡插入到滑槽内，减少磕碰。

附图说明