[实用新型]集成电路芯片测试系统

权利要求书

1.一种集成电路芯片测试系统，其特征在于，所述集成电路芯片测试系统包括：第一测试设备、第二测试设备、采集设备、存储设备和计算设备，所述第一测试设备、所述采集设备、所述存储设备和所述第二测试设备之间依次电连接，且所述计算设备分别与所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备电连接；

所述计算设备用于根据针对所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备的控制指令，分别对所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备进行控制；

所述采集设备在所述第一测试设备接入预设集成电路芯片时，采集针对所述预设集成电路芯片的运行信号，并将所述运行信号存储至所述存储设备；

所述第二测试设备从所述存储设备获取所述运行信号，并基于所述运行信号对待测集成电路芯片进行测试，所述预设集成电路芯片与所述待测集成电路芯片的芯片类型相同。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述运行信号包括所述第一测试设备输入至所述预设集成电路芯片的输入信号以及所述预设集成电路芯片针对所述输入信号的第一输出信号；

所述第二测试设备具体用于将所述输入信号输入至所述待测集成电路芯片，获取所述待测集成电路芯片针对所述输入信号产生的第二输出信号，并将所述第一输出信号与所述第二输出信号进行比较。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述集成电路芯片测试系统还包括接入器，所述接入器包括与所述预设集成电路芯片电连接的第一接口、与所述第一测试设备电连接的第二接口以及与所述采集设备电连接的第三接口；

所述接入器通过所述第一接口和所述第二接口获取所述运行信号，通过所述第三接口将所述运行信号发送给所述采集设备。

4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述接入器还包括信号放大器，所述信号放大器与所述第三接口电连接；

所述接入器通过所述信号放大器将所述运行信号进行放大，并将放大后的所述运行信号通过所述第三接口发送给所述采集设备。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述采集设备包括第四接口、数模转换器、多路开关、时序控制器、同步控制器、第五接口和第六接口，所述第四接口、所述数模转换器、所述多路开关、所述时序控制器和所述第六接口依次电连接，所述同步控制器分别与所述数模转换器、所述多路开关、所述时序控制器和所述第五接口电连接；

所述采集设备通过所述第五接口接收所述计算设备的同步控制指令，并通过所述同步控制器对所述数模转换器、所述多路开关、所述时序控制器进行时序同步，且所述采集设备还通过所述第四接口接收所述运行信号，通过所述数模转换器将所述运行信号由数字信号转换为模拟信号，通过所述多路开关将转换后的所述运行信号传输至所述时序控制器，通过所述时序控制器对转换后的所述运行信号进行压缩，通过所述第六接口将压缩后的所述运行信号发送给所述存储设备。

6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述第二测试设备包括存储转接器、多个串联的信号处理器和控制器，所述存储转接器包括第七接口、第八接口和第九接口，所述存储转接器通过所述第七接口与所述存储设备电连接，所述存储转接器通过所述第八接口与多个串联的所述信号处理器中的第一个信号处理器电连接，所述存储转接器通过所述第九接口与多个串联的所述信号处理器中的最后一个信号处理器电连接，所述控制器分别与多个所述信号处理器电连接；

所述第二测试设备通过所述存储转接器从所述存储设备获取所述运行信号，且所述运行信号包括多个并行的运行子信号，将多个并行的所述运行子信号转换为多个串行的所述运行子信号，通过所述控制器控制多个所述信号处理器对多个串行的所述运行子信号进行预处理，通过所述存储转接器对处理后的多个串行的所述运行子信号进行校验。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述第二测试设备具体用于通过所述控制器控制多个所述信号处理器将多个串行的所述运行子信号由模拟信号转换为数字信号，通过所述存储转接器对转换后的所述运行子信号进行校验。