[实用新型]杂光检测设备有效

专利信息
申请号: 201921289640.3 申请日: 2019-08-09
公开(公告)号: CN210802856U 公开(公告)日: 2020-06-19
发明(设计)人: 杨俊成;郭军华;黄浩滨;叶小伟;沈科良 申请(专利权)人: 浙江舜宇光学有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;F21V14/02
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 刘娜
地址: 315499 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 检测 设备
【说明书】:

实用新型提供了一种杂光检测设备。杂光检测设备包括机构系统,机构系统包括机架主体和检测机构,检测机构位于机架主体内,检测机构包括:光源机构,光源机构包括光源和第一旋转组件,光源位于第一旋转组件上,第一旋转组件以第一轴Y为转轴做旋转运动;镜头承放机构,第一旋转组件带动光源绕镜头承放机构做旋转运动,镜头承放机构包括第二旋转组件,光学镜头放置在第二旋转组件上,第二旋转组件以第二轴Z为转轴做旋转运动,第一轴Y与第二轴Z不同轴;检测芯片,检测芯片位于镜头承放机构的下方,对光学镜头进行杂光检测。本实用新型解决了现有技术中杂光检测设备存在不能实现全角度的杂光检测的问题。

技术领域

本实用新型涉及杂光检测设备技术领域,具体而言,涉及一种杂光检测设备。

背景技术

镜头在出货之前需要检测杂光,只有检测合格的镜头才能流转下道工序。随着电子产品的发展,镜头产能日益增长,镜头的性能要求也越来越严格。人工作业的检测方法已远远不能满足镜头产能的需求,而其它自动检测方法都各有局限性,不能灵活调整检测角度,通用性不强;检测角度受限,不能实现全角度杂光检测;无法准确记录镜头上检测出的杂光位置,精度差;镜头上不同的检测角度,光照条件难以保持一致,导致杂光漏检。杂光检测的工序多,操作规范要求严格,人工检测会有人力成本高,新员工培养周期长,上手慢等问题。

也就是说,现有技术中杂光检测设备存在不能实现全角度的杂光检测的问题。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种杂光检测设备,以解决现有技术中杂光检测设备存在不能实现全角度的杂光检测的问题。

为了实现上述目的,根据本实用新型的一个方面,提供了一种杂光检测设备,包括机构系统,机构系统包括机架主体和检测机构,检测机构位于机架主体内,检测机构包括:光源机构,光源机构包括光源和第一旋转组件,光源位于第一旋转组件上,第一旋转组件以第一轴Y为转轴做旋转运动;镜头承放机构,第一旋转组件带动光源绕镜头承放机构做旋转运动,镜头承放机构包括第二旋转组件,光学镜头放置在第二旋转组件上,第二旋转组件以第二轴Z为转轴做旋转运动,第一轴Y与第二轴Z不同轴;检测芯片,检测芯片位于镜头承放机构的下方,对光学镜头进行杂光检测。

进一步地,检测机构还包括安装板,安装板安装在机架主体内,光源机构和镜头承放机构安装在安装板上,光源机构与镜头承放机构安装在安装板的同一侧。

进一步地,第一旋转组件包括:向心轴承组件,向心轴承组件安装在安装板上,且向心轴承组件与镜头承放机构相邻;Y轴旋转平台,Y轴旋转平台安装在安装板上,Y轴旋转平台与镜头承放机构相邻,且Y轴旋转平台与向心轴承组件相对设置;龙门式摆臂,龙门式摆臂的第一端与向心轴承组件连接,龙门式摆臂的第二端与Y轴旋转平台连接,光源位于龙门式摆臂的横臂上,Y轴旋转平台以第一轴Y为转轴做旋转运动,带动龙门式摆臂绕光学镜头转动。

进一步地,光源机构还包括调节机构,光源通过调节机构安装在横臂上,调节机构包括:支架,光源安装在支架上;第一手动XY角度调节平台,第一手动XY角度调节平台位于支架下方,且与光源间隔设置,第一手动XY角度调节平台调节光源与横臂之间的夹角,调节光源的照射方向,以使光源能够朝向光学镜头照射;第一手动XY移动平台,第一手动XY移动平台位于第一手动XY角度调节平台下方,第一手动XY移动平台调节光源在横臂所在平面的位置,以调节光源的照射位置,以使光源能够照射到光学镜头。

进一步地,第二旋转组件包括:第二手动XY移动平台,光学镜头安装在第二手动XY移动平台上,第二手动XY移动平台调节光学镜头在杂光检测设备所安装的平面内的位置;转台连接架;Z轴旋转平台,第二手动XY移动平台通过转台连接架安装在Z轴旋转平台上,以带动光学镜头以第二轴Z为转轴进行转动。

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