[实用新型]高精度试样制备装置

权利要求书

1.一种高精度试样制备装置，用于将装饰材料粘结到制备平台，其特征在于，所述高精度试样制备装置包括基架、顶推构件、驱动组件和用于测量所述装饰材料粘结层厚度的电子量测构件，其中：所述基架包括基板和用于固定所述基板的支撑脚，且所述驱动组件安装固定在所述基板上；所述顶推构件包括推杆和连接固定在所述推杆一端的顶推块，所述顶推块背向所述推杆的一侧设有用于推压待粘结装饰材料的表面的顶推面，且在所述基架通过所述支撑脚安装定位到所述制备平台上时，所述顶推面平行于所述制备平台表面；所述顶推构件连接固定到所述驱动组件，并在所述驱动组件的驱动带动下沿所述制备平台的表面的垂向移动；所述电子量测构件包括检测部和显示部，且所述电子量测构件通过所述检测部直接或间接获取所述顶推面在其垂向上移动的位移数值，并由所述显示部显示所述位移数值。

2.根据权利要求1所述的高精度试样制备装置，其特征在于，所述显示部安装固定在所述基架，且所述显示部与所述检测部导电连接。

3.根据权利要求2所述的高精度试样制备装置，其特征在于，所述顶推构件包括基准块，且所述基准块设有垂直于所述制备平台的表面的垂向的基准面；所述检测部直接或间接安装固定在所述基板，且所述检测部的检测方向垂直于所述基准面，并位于所述基准面的正面投影区域内。

4.根据权利要求3所述的高精度试样制备装置，其特征在于，所述基准块连接固定在所述推杆的末端，且所述基准块背向所述基准面的一侧抵靠到所述顶推块；所述检测部和显示部分别安装固定在所述基板的上表面，且所述基板设有用于避让所述检测部的检测方向的避让孔，所述检测部的检测头以不突出所述基板的下表面的方式延伸嵌入所述避让孔中。

5.根据权利要求4所述的高精度试样制备装置，其特征在于，所述基准面的平面度小于0.1mm，且所述检测部设有激光位移传感器。

6.根据权利要求1所述的高精度试样制备装置，其特征在于，所述驱动组件还包括丝杠及配合套设在所述丝杠上的丝杠母，且所述推杆连接固定到所述丝杠母，并在所述丝杠或所述丝杠母旋转时带动所述推杆上行或下行；

所述丝杠沿所述顶推面的垂向连接固定在所述基板的上表面，所述支撑脚和顶推块分别位于所述基板的下表面；所述基板上设有通孔，且所述推杆穿过所述通孔连接固定到所述基板下方的顶推块；所述推杆和丝杠同轴设置。

7.根据权利要求6所述的高精度试样制备装置，其特征在于，所述推杆通过轴承组件以周向活动连接的方式固定到所述丝杠母，且所述丝杠母的外侧壁设有用于手动驱动所述丝杠母旋转的摇臂；

在所述摇臂通过驱动带动所述丝杠母绕所述丝杠旋转时，所述推杆不发生周向上的旋转运动。

8.根据权利要求6所述的高精度试样制备装置，其特征在于，所述高精度试样制备装置还包括导轨及套设配合在所述导轨上的滑块，且所述导轨安装固定在所述推杆、所述滑块安装固定在所述基板；并在所述推杆做上升或下降的直线运动时，所述推杆带动所述导轨在所述滑块上滑动。

9.根据权利要求1所述的高精度试样制备装置，其特征在于，所述基架包括四个相互平行设置的支撑脚，四个所述支撑脚以分布于第一正方形四个顶点的方式连接固定到所述基板的底面，且每一所述支撑脚分别设有朝向所述第一正方形中心的直角槽；

所述顶推块的顶推面呈第二正方形，且所述顶推块位于所述第一正方形的中心位置；所述第二正方形小于所述第一正方形，且所述顶推面的每一顶点分别嵌入在一个所述支撑脚的直角槽中。