[实用新型]高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪

权利要求书

1.一种高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪，包括双狭缝组件(1)、准直自由曲面镜(2)、曲面棱镜(3)、成像自由曲面镜(4)、分谱段折转镜(5)、谱段一探测器(6)和谱段二探测器(7)，其特征在于：

地物目标反射的光线经过双狭缝组件(1)入射到准直自由曲面镜(2)，而后经准直自由曲面镜(2)反射至曲面棱镜(3)的前表面透射，在曲面棱镜(3)的后表面内反射，再次透射经过曲面棱镜(3)的前表面后在成像自由曲面镜(4)上反射聚焦，其中，经双狭缝组件(1)下方狭缝入射的光经分谱段折转镜(5)反射至谱段一探测器(6)接收，经双狭缝组件(1)上方狭缝入射的光直接入射至谱段二探测器(7)探测接收。

2.根据权利要求1所述的一种高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪，其特征在于：所述的双狭缝组件(1)包含平行且相离一定距离的两条狭缝，根据不同的使用波段和不同的分辨率要求可以设置成不同的缝宽。

3.根据权利要求1所述的一种高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪，其特征在于：所述的准直自由曲面镜(2)和成像自由曲面镜(4)为不具旋转对称，但为关于两狭缝的中心连线轴对称的光学表面。