[实用新型]相位中心测试系统

说明书

本实用新型涉及一种相位中心测试系统，包括：机架、多探头环形阵列结构、天线测试承载转动装置、相位中心测试治具和驱动结构，多探头环形阵列结构安装于机架上且竖向布置，多探头环形阵列结构的底部设置有缺口，天线测试承载转动装置同样竖向布置，且部分天线测试承载转动装置从缺口中伸入多探头环形阵列结构中，天线测试承载转动装置的顶部用于安装相位中心测试治具，待测试物安装于相位中心测试治具上，相位中心治具被驱动结构所驱动运动，其运动方向为以下方向中的一种或者多种组合：X轴、Y轴、Z轴。本实用新型具有能够高效且精准地调节待测试物的位置、便于验证测量待测试物的相位中心的效果。

技术领域

本实用新型涉及天线性能测试技术领域，尤其是涉及一种相位中心测试系统。

背景技术

随着通讯、雷达、人造卫星和宇航技术的发展，对天线的跟踪、定位精度的要求也越来越高。天线所辐射出的电磁波在离开天线一定的距离后，其等相位面会近似为一个球面，该球面的球心即为该天线的等效相位中心。而天线的相位中心问题无论是在其相位测量应用、形成波束侦收应用、作为干涉仪阵列单元还是作为抛物面天线的馈源使用都很重要。

传统的天线测量系统中采用垫高被测物或者制造专用治具等方式改变被测物的位置，从而实现使被测物的相位中心移动到测试中心，但是这种方式操作比较麻烦，不够高效、精确，故而有待改进。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种相位中心测试系统，具有能够高效且精准地调节待测试物的位置、便于验证测量待测试物的相位中心的优点。

本实用新型的上述目的是通过以下技术方案得以实现的：一种相位中心测试系统，包括：机架、多探头环形阵列结构、天线测试承载转动装置、相位中心测试治具和驱动结构，

所述多探头环形阵列结构安装于所述机架上且竖向布置，所述多探头环形阵列结构的底部设置有缺口，所述天线测试承载转动装置同样竖向布置，且部分所述天线测试承载转动装置从所述缺口中伸入所述多探头环形阵列结构中，所述天线测试承载转动装置的顶部用于安装所述相位中心测试治具，待测试物安装于所述相位中心测试治具上，

所述相位中心治具被所述驱动结构所驱动运动，其运动方向为以下方向中的一种或者多种组合：X轴、Y轴、Z轴。

通过采用上述技术方案，将相位中心测试治具、天线测试承载转动装置结合使用之后，天线测试承载转动装置带动待测试物旋转，配合多探头环形阵列结构上呈环形布置的探头，可以对待测试物进行球面场辐射性能测试，测试完成后根据其收集到的数据可以计算出待测试物的相位中心；根据计算出来的相位中心，驱动结构可以方便的调节相位中心治具和待测试物的位置，可将待测试物的相位中心移动的测试中心；移动后再进行一次球面场辐射性能测试，重新计算该待测试物的相位中心，通过两组测试数据的对比，可用于验证相位中心是否精准。

本实用新型进一步设置为，所述驱动结构安装于所述天线测试承载转动装置的顶部，所述相位中心测试治具安装于所述驱动结构上。

通过采用上述技术方案，驱动结构可直接驱使相位中心测试治具移动，从而可以快速调整待测试物的位置，而且无需驱动除相位中心测试治具、待测试物以外的部件运动，更加省力，效率更高。

本实用新型进一步设置为，所述驱动结构安装于所述机架上，所述天线测试承载转动装置的底部安装于所述驱动结构上，所述相位中心测试治具直接安装于所述天线测试承载转动装置的顶部。

通过采用上述技术方案，将驱动结构设置于天线测试承载转动装置的底部，可以使驱动结构尽可能远离相位中心测试治具和待测试物，尽量避免驱动结构所带来的信号干扰，测试所得的数据更加精准。

本实用新型进一步设置为，所述驱动结构为电动式或者手动式的XYZ三轴位移台。