[实用新型]用于检测芯片的分析装置

权利要求书

1.一种用于检测芯片的分析装置，其特征在于，所述分析装置包括：

基座；以及

控制模块，设置在所述基座上，并包括：

定位子模块，所述定位子模块包括接纳结构，所述接纳结构配置为能够接纳所述检测芯片；

操作子模块，所述操作子模块包括至少一个操作部，所述至少一个操作部配置为能够被驱动以对所述检测芯片进行接触机械操作；以及

检测子模块，所述检测子模块配置为能够对所述检测芯片中的样品执行检测操作。

2.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，所述操作子模块的至少一个操作部包括：第一操作部，

其中，所述第一操作部包括第一可移动杆，所述第一可移动杆包括第一操作端部，且配置为能够被驱动至释放操作位置，以使得所述第一操作端部对所述检测芯片进行释放操作。

3.根据权利要求2所述的分析装置，其特征在于，所述第一操作部还包括：

第一电机；以及

第一传动单元，所述第一传动单元与所述第一电机和所述第一可移动杆连接，并配置为能够将所述第一电机提供的运动传递给所述第一可移动杆，以驱动所述第一可移动杆。

4.根据权利要求3所述的分析装置，其特征在于，所述第一传动单元包括：

第一丝杠，与所述第一电机连接，并配置为能够在所述第一电机驱动下转动；

第一丝杠支撑座，所述第一丝杠连接在所述第一丝杠支撑座与所述第一电机之间；

第一螺母，与所述第一丝杠螺纹啮合，并与所述第一可移动杆固定连接，所述第一螺母配置为在所述第一丝杠转动时能够在所述第一丝杠上进行移动；以及

第一导轨，所述第一可移动杆能够沿所述第一导轨移动。

5.根据权利要求4所述的分析装置，其特征在于，所述第一操作部还包括：第一位置传感器，

所述第一位置传感器配置为在所述第一可移动杆处于第一位置时生成用于所述第一电机的第一位置信号。

6.根据权利要求1-5任一所述的分析装置，其特征在于，所述操作子模块的至少一个操作部包括：第二操作部，

其中，所述第二操作部包括第二可移动杆，所述第二可移动杆包括第二操作端部，且配置为能够被驱动至挤压操作位置，以通过所述第二操作端部对所述检测芯片进行挤压操作。

7.根据权利要求6所述的分析装置，其特征在于，所述第二操作部还包括：

第二电机，用于驱动所述第二可移动杆进行往复移动；以及

第二传动单元，所述第二传动单元与所述第二电机和所述第二可移动杆连接，并配置为能够将所述第二电机提供的运动传递给所述第二可移动杆，以驱动所述第二可移动杆。

8.根据权利要求7所述的分析装置，其特征在于，所述第二传动单元包括：

第二丝杠，与所述第二电机连接，并配置为能够在所述第二电机驱动下转动；

第二丝杠支撑座，所述第二丝杠连接在所述第二丝杠支撑座与所述第二电机之间；

第二螺母，与所述第二丝杠螺纹啮合，并与所述第二可移动杆固定连接，所述第二螺母配置为在所述第二丝杠转动时能够在所述第二丝杠上进行移动；以及

第二导轨，所述第二可移动杆能够沿所述第二导轨移动。

9.根据权利要求8所述的分析装置，其特征在于，所述第二操作部还包括：第二位置传感器，

所述第二位置传感器配置为在所述第二可移动杆处于第二位置时生成用于所述第二电机的第二位置信号。

10.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，所述检测子模块包括：可移动检测组件，

所述可移动检测组件具有U形结构，并配置为能够将所述检测芯片接纳在所述U形结构的开口中，并能够相对于所述检测芯片进行移动并执行所述检测操作。