[实用新型]一种led光通量测试方法的扩展装置

说明书

本实用新型公开了一种led光通量测试方法的扩展装置，其中，包括光通量数据测试装置，及电功率数据测算装置。光通量数据测试装置包括积分球、多芯片高集成度led和光传感器，及光电检测设备和上位机电脑。电功率数据测算装置包括扩展装置，及外置电源。扩展装置包括光电耦合器、三极管驱动电路，及线性恒流电路。线性恒流电路包括第一万用表、第二万用表、电阻R3和稳压器LM317。第二万用表与多芯片高集成度led并联连接；稳压器LM317与外置电源的输入端连接；线性恒流电路给多芯片高集成度led提供恒定测试电流。第一万用表和第二万用表分别记录测试时的电压和电流。本实用新型具有适用不同功率led光源测试和节省成本，及结构简单的效果。

技术领域

本实用新型属于光通量测试领域，特别涉及一种led光通量测试方法的扩展装置。

背景技术

针对发光二极管(简称led)的光源测试其光通量的方法通常是由一种叫积分球的测试仪器来进行。其原理是通过一台上位机电脑来控制和一台光电检测设备给led供电，之后将led置于一个密闭球体内，由光电传感器对led发出的光进行接收并转换成模拟电信号传送回光电检测设备，再由内置模/数转换电路转换成数字信号并经处理器进行积分运算处理，输出至上位机电脑进行数据和图表的显示。如果测试led在不同的工作电流下，一个单位时间内所发出的光的总量，则定义为该led在不同的工作电流下的光通量。光电检测设备内置的电参数检测电路对led工作电压进行检测并输出数字信号，通过上位机电脑应用软件分析计算出该led在不同工作电流下的功率参数。通过光通量与功率的比较，得到该led的光效数据。目前，生产积分球测试仪器的厂家对于积分球产品的规格基本上都是分大型和小型两种，并设计成标准产品。大型的测量整个灯具的光电参数，小型的测量单个光源的光电参数。对于购买了小型积分球的用户，由于配置的光电检测设备的供电功率范围有限，只适单芯片LED(譬如25V)，对于测量目前市场上出现的多芯片高集成度led(简称多芯片高集成度led)(譬如电压大于25V)，由于其功率大，工作电压相当高，并有不断增高的趋势。此时的小型积分球就会显得无能为力。

实用新型内容

鉴于上述问题，本实用新型的目的在于提供一种适用不同功率led光源测试和节省成本，及结构简单的led光通量测试方法的扩展装置。

为实现上述目的，本实用新型提供一种led光通量测试方法的扩展装置，其中，包括光通量数据测试装置，及在光通量数据测试装置上设有的电功率数据测算装置。光通量数据测试装置包括积分球、在积分球内的两侧分别设有的多芯片高集成度led和光传感器，及在积分球外部设有与光传感器连接的光电检测设备和在光电检测一侧上连接的上位机电脑。

所述的电功率数据测算装置包括分别与多芯片高集成度led和光电检测设备连接的扩展装置，及在扩展装置上连接有的外置电源；

所述的扩展装置包括与光电检测设备的端口连接的光电耦合器、在光电耦合器连接有利用光电耦合器输出驱动电压产生大功率N型场效应的三极管驱动电路，及在三极管驱动电路上连接有利用三极管驱动电路输出驱动电压的线性恒流电路；

所述的线性恒流电路包括与三极管驱动电路串联的第一万用表、与第一万用表串联的第二万用表、与第二万用表串联的电阻R3和与电阻R3串联的稳压器LM317；所述的第二万用表与多芯片高集成度led并联连接；所述的稳压器LM317与外置电源的输入端连接；所述的线性恒流电路给多芯片高集成度led提供恒定测试电流；线性恒流电路给多芯片高集成度led提供可调整电流数据的恒流驱动。由此，负线与第一万用表(负责测量直流电流)的正表笔相接，第一万用表的负表笔接N型大功率场效应三极管驱动电路的源极(即2脚)。第二万用表(负责测量直流电压)，正表笔与多芯片高集成度led正极相接，负表笔与多芯片高集成度led负极相接。

所述的第一万用表和第二万用表分别记录测试时的电压和电流。

在一些实施方式中，光电耦合器为PC817光电耦合器。