[实用新型]一种led光通量测试方法的扩展装置有效

专利信息
申请号: 201920958246.8 申请日: 2019-06-22
公开(公告)号: CN210221287U 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: 梁俊明 申请(专利权)人: 广州晶彩光电科技有限公司
主分类号: G01J1/02 分类号: G01J1/02
代理公司: 广州维智林专利代理事务所(普通合伙) 44448 代理人: 钟闻鹏
地址: 510000 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 led 光通量 测试 方法 扩展 装置
【权利要求书】:

1.一种led光通量测试方法的扩展装置,其特征在于,包括光通量数据测试装置,及在光通量数据测试装置上设有的电功率数据测算装置;

所述的光通量数据测试装置包括积分球、在积分球内的两侧分别设有的多芯片高集成度led和光传感器,及在积分球外部设有与光传感器连接的光电检测设备和在光电检测一侧上连接的上位机电脑;

所述的电功率数据测算装置包括分别与多芯片高集成度led和光电检测设备连接的扩展装置,及在扩展装置上连接有的外置电源;

所述的扩展装置包括与光电检测设备的端口连接的光电耦合器、在光电耦合器连接有利用光电耦合器输出驱动电压产生N型场效应的三极管驱动电路,及在三极管驱动电路上连接有利用三极管驱动电路输出驱动电压的线性恒流电路;

所述的线性恒流电路包括与三极管驱动电路串联的第一万用表、与第一万用表串联的第二万用表、与第二万用表串联的电阻R3和与电阻R3串联的稳压器LM317;所述的第二万用表与多芯片高集成度led并联连接;所述的稳压器LM317与外置电源的输入端连接;所述的线性恒流电路给多芯片高集成度led提供恒定测试电流;

所述的第一万用表和第二万用表分别记录测试时的电压和电流。

2.根据权利要求1所述的一种led光通量测试方法的扩展装置,其特征在于,所述的光电耦合器为PC817光电耦合器;

所述的PC817光电耦合器上的引脚1,2内置有发光二极管上电发光,引脚3,4内置有光敏晶体管发射极和集电极受光照射导通;

所述的光电耦合器与三极管驱动电路之间串联有电阻R1;所述的三极管驱动电路上并联有电阻R2。

3.根据权利要求2所述的一种led光通量测试方法的扩展装置,其特征在于,所述的三极管驱动电路为三极管;所述的三极管包括第一引脚栅极、第二引脚源极和第三引脚漏极;所述的第三引脚漏极与外置电源的输出端连接。

4.根据权利要求1、2或3所述的一种led光通量测试方法的扩展装置,其特征在于,所述外置电源的电压应大于多芯片高集成度led工作的电压与稳压器LM317工作的电压之和,输出电流大于多芯片高集成度led测试电流。

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