[实用新型]一种PCB板测试治具有效
申请号: | 201920772709.1 | 申请日: | 2019-05-27 |
公开(公告)号: | CN210051857U | 公开(公告)日: | 2020-02-11 |
发明(设计)人: | 孟凡玺;胡明月 | 申请(专利权)人: | 苏州韦德韦诺电气科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 11350 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 汤东凤 |
地址: | 215400 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 顶针 控制台 测试电源 测试探针 测试 测试单元 测试数据 下压机构 下压杆 显示区 压面 针脚 本实用新型 电连接 电压表 连接点 内置 针头 治具 对准 | ||
本实用新型公开了一种PCB板测试治具,包括用于放置待测试的PCB板的顶针区域、用于固定待测试的PCB板且位于顶针区域上方的下压机构、测试电源区域和控制台,所述顶针区域设有若干测试探针,所述控制台内置若干测试单元,该测试探针的针头通过导线与测试单元电连接,当进行PCB板测试时,将测试探针的针脚与待测试的PCB板的连接点对准,所述下压机构包括下压杆和与下压杆相连的压面,该压面用于固定待测试的PCB板;所述测试电源区域用于提供测试电源,所述控制台包括测试数据显示区,所述测试数据显示区包括若干电压表。
技术领域
本实用新型涉及PCB板测试技术领域,具体地涉及一种PCB板测试治具。
背景技术
目前通常采用人工手动方式对PCB板进行测试,具体为将PCB板放置于治具上,然后人手拿着测试探针对准PCB板上的测试端口中的连接点后插入,最后打开测试开关将PCB板与测试设备导通即可。但是,采用手动方式将一个个测试探针与PCB板上的连接点对准,费时费力,效率低。
故,需要一种新的技术方案以解决上述技术问题。
实用新型内容
为解决现有技术中存在的问题,本实用新型公开了一种PCB板测试治具。
本实用新型所采用的技术方案是:一种PCB板测试治具,包括用于放置待测试的PCB板的顶针区域、用于固定待测试的PCB板且位于顶针区域上方的下压机构、测试电源区域和控制台,所述顶针区域设有若干测试探针,所述控制台内置若干测试单元,该测试探针的针头通过导线与测试单元电连接,当进行PCB板测试时,将测试探针的针脚与待测试的PCB板的连接点对准,所述下压机构包括下压杆和与下压杆相连的压面,该压面用于固定待测试的PCB板;所述测试电源区域用于提供测试电源,所述控制台包括测试数据显示区,所述测试数据显示区包括若干电压表。
作为本实用新型的进一步优化,本实用新型所述的测试电源区域包括5V电源、+15V电源、-15V电源、24V电源和制动电压。
作为本实用新型的进一步优化,本实用新型所述的控制台内置的测试单元包括故障测试单元,所述故障测试单元包括过热故障测试单元。
有益效果:本实用新型可自动将测试探针与PCB板上的连接点对准压紧,省时省力,本实用新型可针对不同类型的PCB板,制作不同的顶针区域,模拟变频器驱动板在正常工作状态下各种检测信号是否正常,PCB板上各电压信号是否在合格范围内,大大节约了调试时间,并将调试人员的工作简单化,调试人员的专业知识要求大大降低。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例进一步阐述本实用新型。
实施例1:
如图1所示,本实施例的一种PCB板测试治具,包括用于放置待测试的PCB板的顶针区域1、用于固定待测试的PCB板且位于顶针区域上方的下压机构2、测试电源区域3和控制台4,所述顶针区域1设有若干测试探针,所述控制台4内置若干测试单元,该测试探针的针头通过导线与测试单元电连接,当进行PCB板测试时,将测试探针的针脚与待测试的PCB板的连接点对准,所述下压机构2包括下压杆和与下压杆相连的压面,该压面用于固定待测试的PCB板;所述测试电源区域3用于提供测试电源,所述控制台4包括测试数据显示区,所述测试数据显示区包括若干电压表。
具体的本实施例的测试电源区域包括5V电源、+15V电源、-15V电源、24V电源和制动电压,控制台内置的测试单元包括故障测试单元,所述故障测试单元包括过热故障测试单元。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州韦德韦诺电气科技有限公司,未经苏州韦德韦诺电气科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201920772709.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:集成电路测试仪
- 下一篇:一种继电器光耦检测装置