[实用新型]基于MPPC阵列的α、β和γ表面污染仪探测器有效
| 申请号： | 201920745114.7 | 申请日： | 2019-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN210294539U | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | 张志勇;刘思平;李晨 | 申请（专利权）人： | 上海仁机仪器仪表有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/167 | 分类号： | G01T1/167;G01T1/20 |
| 代理公司： | 上海领洋专利代理事务所(普通合伙) 31292 | 代理人： | 罗晓鹏 |
| 地址： | 200124 上海市崇明区横沙乡富*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 mppc 阵列 表面 污染 探测器 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于MPPC阵列的α、β和γ表面污染仪探测器，其特征在于：该探测器包括：
双闪探测器，探测粒子所产生的光子；
反射碗(1)，用于将所述双闪探测器探测到的光子进行反射；
硅光电倍增器，用于接收所述反射碗反射的光子并将光信号转换成电荷信号；
信号处理电路，用于对所述硅光电倍增器形成的电荷信号进行活度测量。
2.根据权利要求1所述的基于MPPC阵列的α、β和γ表面污染仪探测器，其特征在于：所述信号处理电路包括依次串联的运算放大器、比较器和计数器。
3.根据权利要求2所述的基于MPPC阵列的α、β和γ表面污染仪探测器，其特征在于：还包括设置于所述双闪探测器光子探测面的避光膜。
4.根据权利要求3所述的基于MPPC阵列的α、β和γ表面污染仪探测器，其特征在于：还包括贴靠所述避光膜设置的保护网(2)。
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