[实用新型]CSP测试夹具

说明书

本实用新型涉及半导体测试装置领域，公开了一种CSP测试夹具，包括夹具本体和底座；夹具本体的端面上设置有电路板；电路板上设置有用于与产品对应连接的探针；底座罩在电路板上并连接于夹具本体上；夹具本体在探针位置设置有真空孔；夹具本体内设置有真空腔；夹具本体远离电路板的一面上设置有电源线；夹具本体远离电路板的一面上还设置有真空吸管；真空吸管与真空腔连接；底座可在外力作用下向夹具本体弹性压缩；底座上设置有与探针对应的缺口；底座向夹具本体压缩时探针刚好可以伸出底座上的缺口；通过在电路板上设置用于接触产品上电极的探针，避免了因产品上点胶过多导致的电极接触不良的情况，检测结果更精准。

技术领域

本实用新型涉及一种半导体测试装置，特别涉及一种CSP测试夹具。

背景技术

为保证产品质量，在LED生产过程中需要进行产品质量检测，目前的检测方法多为使用测试电极对产品上的电极通电，根据产品点亮结果判断产品好坏，该方法检测数据准确性差，不利于生产操作的稳步进行。

实用新型内容

本实用新型解决的技术问题是提供一种CSP测试夹具，可以提高检测效率，检测结果更精准，节约检测时间。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种CSP测试夹具，包括夹具本体和底座；所述夹具本体的端面上设置有电路板；所述电路板上设置有用于与产品对应连接的探针；所述底座罩在电路板上并连接于夹具本体上；所述夹具本体在探针位置设置有真空孔；所述夹具本体内设置有真空腔；所述夹具本体远离底座的一面上设置有电源线。通过在电路板上设置用于接触产品上电极的探针，避免了因产品上点胶过多导致的电极接触不良的情况，检测结果更精准。

进一步的是：所述夹具本体远离电路板的一面上还设置有真空吸管；所述真空吸管与真空腔连接。真空吸管为夹具本体提供真空吸附环境，通过探针位置的真空孔对待检测产品进行吸附，将产品固定住。

进一步的是：所述底座可在外力作用下向夹具本体弹性压缩。

进一步的是：所述底座上设置有与探针对应的缺口。

进一步的是：底座向夹具本体压缩时探针刚好可以伸出底座上的缺口。底座向夹具本体压缩时探针可以从底座上的缺口伸出，接触到产品上的电极，将产品点亮，再使用积分球对产品的光线进行测试。

附图说明

图1为CSP测试夹具结构示意图；

图2为产品检测示意图。

图中标记为：100、夹具本体；110、底座；111、探针；120、真空吸管；130、电源线。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明。

如图1所示，一种CSP测试夹具，包括夹具本体100和底座110；所述夹具本体100的端面上设置有电路板；所述电路板上设置有用于与产品对应连接的探针111；所述底座110罩在电路板上并连接于夹具本体100上；所述夹具本体100在探针111位置设置有真空孔；所述夹具本体100内设置有真空腔；所述夹具本体100远离底座110的一面上设置有电源线130。

在上述基础上，如图1所示，所述夹具本体100远离底座110的一面上还设置有真空吸管120；所述真空吸管120与真空腔连接。

在上述基础上，如图1所示，所述底座110可在外力作用下向夹具本体100弹性压缩。

在上述基础上，如图1所示，所述底座110上设置有与探针111对应的缺口。

在上述基础上，如图1所示，底座110向夹具本体100压缩时探针111刚好可以伸出底座110上的缺口。