[实用新型]荧光膜片夹持装置及荧光膜片测试系统有效
申请号: | 201920715959.1 | 申请日: | 2019-05-15 |
公开(公告)号: | CN210108271U | 公开(公告)日: | 2020-02-21 |
发明(设计)人: | 周波;何至年;朱弼章;唐其勇 | 申请(专利权)人: | 深圳市兆驰节能照明股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;G01J3/46;G01N21/17 |
代理公司: | 深圳瑞天谨诚知识产权代理有限公司 44340 | 代理人: | 张佳 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙岗*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 荧光 膜片 夹持 装置 测试 系统 | ||
本申请公开了一种荧光膜片夹持装置,夹持装置包括外壳和支撑平台,外壳包括壳体和盖板,盖板盖合壳体以形成容置腔,盖板包括板体和透明玻璃片,板体呈环状,透明玻璃片设于板体的中间,透明玻璃片的上表面与板体的上表面平齐,透明玻璃片的厚度小于板体的厚度形成空腔以放置荧光膜片;支撑平台设置于容置腔内,支撑平台的上方设有环状垫片,环状垫片的中空部分为芯片放置区,用于容纳芯片,环状垫片与支撑平台间隔设置以形成基板放置区,用于容纳基板,空腔、芯片放置区和基板放置区对应并贯通连接。本申请还公开一种荧光膜片测试装置。通过上述方式,在能够实现膜片厚度测量的同时还能够测量膜片的其他参数,且夹持性能好,稳定,平稳。
技术领域
本申请涉及LED技术领域,特别是涉及一种荧光膜片夹持装置及荧光膜片测试系统。
背景技术
目前针对荧光膜片,只能通过螺旋测微仪或厚度测试仪,单纯地测量荧光膜片的厚度,不能测量膜片内荧光粉的含量、荧光粉分布的均匀度以及荧光膜的颜色参数;需要将荧光膜片制作成光源成品后才能通过测试光源参数来反推荧光膜的颜色参数等。
现有技术中,缺少能测量膜片内荧光参数的系统以及配套的夹持装置。
实用新型内容
本申请提出一种荧光膜片夹持装置及荧光膜片测试系统,能够解决现有技术中不能检测荧光膜片其他参数的问题。
为了解决上述问题,本申请提供一种荧光膜片夹持装置,夹持装置包括:
外壳,外壳包括壳体和盖板,盖板盖合壳体以形成容置腔,盖板包括板体和透明玻璃片,板体呈环状,透明玻璃片设于板体的中间,透明玻璃片的上表面与板体的上表面平齐,透明玻璃片的厚度小于板体的厚度形成空腔以放置荧光膜片;
支撑平台,设置于容置腔内,支撑平台的上方设有环状垫片,环状垫片的中空部分为芯片放置区,用于容纳芯片,环状垫片与支撑平台间隔设置以形成基板放置区,用于容纳基板,空腔、芯片放置区和基板放置区对应并贯通连接。
其中,支撑平台与壳体通过滑块连接以使得支撑平台能够沿壳体上下滑动,支撑平台下方设置有弹簧,用于支撑支撑平台。
其中,支撑平台上方设有两个第一金属触点,支撑平台的下方连接有柔性信号线,柔性信号线与两个第一金属触点电连接。
其中,壳体的下端设有信号线接口,信号线接口与柔性信号线电连接。
其中,壳体的底部内壁设有距离感应器,用于感应支撑平台与壳体底部之间的距离。
其中,盖板和壳体铰接。
其中,基板的上表面设有两个第一金属焊盘,下表面设有两个第二金属触点,第一金属焊盘的焊盘面积与芯片的电极面积对应,两个第一金属焊盘与两个第二金属触点通过过孔电连接。
为了解决上述问题,本申请提供还一种荧光膜片测试系统,测试系统包括如前的荧光膜片夹持装置、驱动器、光收集器以及测试仪,驱动器通过第一信号线与荧光膜片夹持装置的信号线接口连接,光收集器用于收集芯片发出的光,光收集器与测试仪通过第二信号线连接。
本申请的荧光膜片夹持装置及荧光膜片测试系统通过将荧光膜片夹持在壳体中,在能够实现膜片厚度测量的同时还能够测量膜片的其他参数,且夹持性能好,稳定,平稳。
附图说明
图1是本申请荧光膜片夹持装置一实施例的结构示意图;
图2是本申请荧光膜片夹持装置一实施例中盖板打开状态时的结构示意图;
图3是本申请荧光膜片夹持装置一实施例装设有基板和芯片时的结构示意图;
图4是本申请荧光膜片夹持装置一实施例中基板的结构示意图;
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