[实用新型]测试治具的电路结构和测试治具

说明书

一种测试治具的电路结构和测试治具。所述测试治具的电路结构包括：稳压电源，稳压电源具有正极和负极；测试电路，测试电路包括正极接入端、负极接入端和多个测试顶针；低压差线性稳压器，低压差线性稳压器包括正极输入端、负极输入端、使能输入端、正极输出端和负极输出端；低压差线性稳压器的正极输入端连接稳压电源的正极，低压差线性稳压器的负极输入端连接稳压电源的负极，低压差线性稳压器的正极输出端连接测试电路的正极接入端，低压差线性稳压器的负极输出端连接测试电路的负极接入端；行程开关，行程开关的第一端连接稳压电源的正极，行程开关的第二端连接低压差线性稳压器的使能输入端。测试治具的电路结构能够防止浪涌。

技术领域

本实用新型涉及电子设备测试领域，尤其涉及一种测试治具的电路结构和测试治具。

背景技术

在现有的电子设备(例如，手机、平板电脑等)的通信模组等产品模组，需要进行测试，因此，需要有相应的测试治具。

现有测试治具与电源之间的过电压保护，并不能够达到理解效果。在实际测试中，极易因一些操作过程，而导致过电流或过电压(即浪涌)，损坏测试治具连接的被测试产品模组。

现有技术的防止产品模组在测试中的浪涌破坏，可以参考公开号为CN105356422A的中国专利申请。

产品模组的电路在有浪涌电压的情况下容易损坏，影响电路的稳定性，同时由于电路中由于元器件使用数量较多，出现故障的概率较高，降低了电路整体的可靠性，导致在测试过程中产生新的产品模组不良。

因此，需要一种改进的测试治具电路结构和测试治具，以克服生产线测试过程中，由于浪涌原因而导致的产品模组损坏和不良问题。

实用新型内容

本实用新型解决的问题是提供一种测试治具的电路结构和测试治具，防止由于浪涌原因而导致的产品模组损坏和不良。

为解决上述问题，本实用新型提供一种测试治具的电路结构，包括：稳压电源，所述稳压电源具有正极和负极；测试电路，所述测试电路包括正极接入端、负极接入端和多个测试顶针；低压差线性稳压器，所述低压差线性稳压器包括正极输入端、负极输入端、使能输入端、正极输出端和负极输出端；所述低压差线性稳压器的所述正极输入端连接所述稳压电源的所述正极，所述低压差线性稳压器的所述负极输入端连接所述稳压电源的所述负极，所述低压差线性稳压器的正极输出端连接所述测试电路的正极接入端，所述低压差线性稳压器的负极输出端连接所述测试电路的负极接入端；行程开关，所述行程开关的第一端连接所述稳压电源的正极，所述行程开关的第二端连接所述低压差线性稳压器的所述使能输入端。

为解决上述问题，本实用新型还提供了一种测试治具，包括如上所述的电路结构。

可选的，所述测试治具包括支承底座、下垫板、模具载盘、支撑架、压合板、压合弹簧和压合手柄；所述下垫板固定于所述支承底座工作台面上，所述测试顶针突出于所述下垫板表面上；所述模具载盘具有工作载位，所述模具载盘可升降地设置于所述下垫板上，所述模具载盘的所述工作载位周边具有通孔，当所述模具载盘下降后，所述测试顶针能够从所述通孔中突出；所述压合板设置在所述压合弹簧上，所述压合弹簧套设在所述支撑架的导杆上；所述手柄通过转动连接结构固定在所述压合板上。

可选的，所述行程开关固定在所述支撑架旁边，所述行程开关的卡位弹片的至少一部分位于所述压合板正下方。

可选的，所述卡位弹片位于所述压合板正下方的部分具有向上翘起的形状。

可选的，所述卡位弹片为金属弹片。

可选的，所述支撑架旁边具有定位结构，所述行程开关固定在所述定位结构上。

可选的，所述行程开关采用螺丝固定在所述定位结构上，所述定位结构采用螺丝固定在所述支承底座工作台面上。