[实用新型]一种雷达物位计有效

专利信息
申请号: 201920664623.7 申请日: 2019-05-10
公开(公告)号: CN209878084U 公开(公告)日: 2019-12-31
发明(设计)人: 周雷 申请(专利权)人: 北京古大仪表有限公司;周雷
主分类号: G01F23/284 分类号: G01F23/284
代理公司: 11262 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人: 李蒙蒙;曲鹏
地址: 102209 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 辐射元件 屏蔽罩 电路板 雷达物位计 绝缘套 吸波片 本实用新型 导波装置 通孔 上端开口 位置纵向 下端开口 纵向投影 电磁波 空腔 伸入 下板 绝缘 盲区 泄露 测量 穿过 吸收
【说明书】:

实用新型提供了一种雷达物位计,包括导波装置、电路板和上端开口的屏蔽罩,所述电路板的下板面上安装有辐射元件,所述屏蔽罩固定至所述电路板的下方并罩住所述辐射元件,所述屏蔽罩上设有与所述辐射元件的位置纵向对应的通孔,其中,所述雷达物位计还包括下端开口的绝缘套,所述绝缘套套设在所述导波装置的上部部分外,且所述绝缘套的上部部分穿过所述通孔,所述绝缘套的伸入所述屏蔽罩内的上部部分上固定有环形的吸波片,所述辐射元件的纵向投影位于所述吸波片的空腔内。本实用新型提供的雷达物位计,利用吸波片来吸收向四周泄露的电磁波,避免对测量结果造成影响,对测量的盲区有改善。

技术领域

本实用新型涉及物位计领域,特别是一种雷达物位计。

背景技术

现有的雷达物位计,在测量使用时,电磁波信号在传播过程中会产生泄露,尤其是在两个部件的连接部位处传播时会产生泄露,泄露的电磁波会对测量信号造成干扰,影响雷达物位计的测量精度。

实用新型内容

为了解决上述技术问题,本实用新型实施例提供了一种雷达物位计,其通过设置吸波片来吸收泄露的电磁波,避免了泄露的电磁波对测量信号造成干扰,提高了雷达物位计的测量精度,改善了测量盲区。

为了达到本实用新型的目的,本实用新型采取的技术方案如下:

本实用新型实施例提供了一种雷达物位计,包括导波装置、电路板和上端开口的屏蔽罩,所述电路板的下板面上安装有辐射元件,所述屏蔽罩固定至所述电路板的下方并罩住所述辐射元件,所述屏蔽罩上设有与所述辐射元件的位置纵向对应的通孔,其中,所述雷达物位计还包括下端开口的绝缘套,所述绝缘套套设在所述导波装置的上部部分外,且所述绝缘套的上部部分穿过所述通孔,所述绝缘套的伸入所述屏蔽罩内的上部部分上固定有环形的吸波片,所述辐射元件的纵向投影位于所述吸波片的空腔内。

本实用新型实施例提供的雷达物位计中,绝缘套的伸入屏蔽罩内的上部部分上固定有环形的吸波片,辐射元件的纵向投影位于吸波片的空腔内,使得辐射元件发射的电磁波信号可穿过吸波片的空腔沿纵向方向传播,而向四周泄露的电磁波可被吸波片吸收,防止泄露的电磁波对雷达物位计的测量造成影响,对测量的盲区有改善。

本实用新型的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述。

附图说明

附图用来提供对本实用新型技术方案的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本申请的实施例一起用于解释本实用新型的技术方案,并不构成对本实用新型技术方案的限制。

图1为根据本实用新型第一个实施例所述的雷达物位计的剖视结构示意图;

图2为图1所示的雷达物位计的分解结构示意图;

图3为图1所示的雷达物位计中第一隔离片的结构示意图;

图4为根据本实用新型第二个实施例所述的雷达物位计的剖视结构示意图;

图5为图4所示的雷达物位计的分解结构示意图;

图6为根据本实用新型第三个实施例所述的雷达物位计的剖视结构示意图;

图7为根据本实用新型第四个实施例所述的雷达物位计的剖视结构示意图。

附图标记:

1-电路板,2-辐射元件,3-屏蔽罩,31-通孔,4-绝缘套,41-上端壁,411-环形凹槽,5-导波装置,51-波导转换段,52-波导段,53-喇叭段,6-第一吸波片,61-避让槽,7-第二吸波片,8-第三吸波片,9-密封圈。

具体实施方式

下文中将结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明。

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