[实用新型]一种雷达物位计

权利要求书

1.一种雷达物位计，包括导波装置、电路板和上端开口的屏蔽罩，所述电路板的下板面上安装有辐射元件，所述屏蔽罩固定至所述电路板的下方并罩住所述辐射元件，所述屏蔽罩上设有与所述辐射元件的位置纵向对应的通孔，其特征在于：所述雷达物位计还包括下端开口的绝缘套，所述绝缘套套设在所述导波装置的上部部分外，且所述绝缘套的上部部分穿过所述通孔，所述绝缘套的伸入所述屏蔽罩内的上部部分上固定有环形的吸波片，所述辐射元件的纵向投影位于所述吸波片的空腔内。

2.根据权利要求1所述的雷达物位计，其特征在于：所述吸波片包括设置于所述绝缘套的上端壁的上表面和所述电路板的下板面之间的第一吸波片，所述第一吸波片套设在所述辐射元件外。

3.根据权利要求2所述的雷达物位计，其特征在于：所述第一吸波片上设有沿径向方向延伸的避让槽。

4.根据权利要求2所述的雷达物位计，其特征在于：所述绝缘套的上端壁的上表面上设有环形凹槽，所述第一吸波片的下部部分位于所述环形凹槽内，所述第一吸波片的上部部分凸出于所述环形凹槽并与所述电路板的下板面接触。

5.根据权利要求2所述的雷达物位计，其特征在于：所述第一吸波片固定在所述绝缘套的上端壁的上表面上或所述电路板的下板面上。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的雷达物位计，其特征在于：所述吸波片包括设置于所述绝缘套的上端壁的下表面和所述导波装置的上端面之间的第二吸波片。

7.根据权利要求6所述的雷达物位计，其特征在于：所述第二吸波片固定于所述绝缘套的上端壁的下表面上或所述导波装置的上端面上。

8.根据权利要求1-5中任一项所述的雷达物位计，其特征在于：所述吸波片包括套设在所述绝缘套的上部部分外的第三吸波片，所述第三吸波片位于所述屏蔽罩内。

9.根据权利要求8所述的雷达物位计，其特征在于：所述第三吸波片固定在所述屏蔽罩的内壁面上。

10.根据权利要求1-5中任一项所述的雷达物位计，其特征在于：所述吸波片通过粘接固定。