[实用新型]一种高精度BTB测试导通模组

说明书

本实用新型公开了一种高精度BTB测试导通模组，包括：销钉组件和结构相同的两测试组件，测试组件通过销钉组件活动连接，各测试组件分别包括：底座、以及若干测试弹片，底座上设置有若干通孔槽，各通孔槽等距离排列，各通孔槽中分别贯穿插入有一测试弹片。本实用新型通过将测试模组一分为二，设置为左右两侧的测试组件，两测试组件通过两等距销钉活动连接，根据不同测试产品的中心距尺寸，调节两测试组件的距离，并在测试组件上设置一排等距离的通孔槽，在通孔槽中插入测试弹片，测试弹片底端与PCBA板连接，测试弹片顶端与待测试产品连接，根据不同待测试产品的引脚数，插入对应数量的测试弹片，通用性较广，结构简单，防呆设计，提高效率。

技术领域

本实用新型涉及BTB测试领域，尤其涉及的是一种高精度BTB测试导通模组。

背景技术

现有技术中，BTB测试模组一般采用POGO PIN探针设计，且POGO PIN探针BTB测试模组采用专用设计，所有配件必须单独设计、加工，具有设计、加工成本高、制作时间长等问题，且无法做到一种测试模组对应多种不同间距的BTB测试产品。

因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种测试速度快、结构简单、体积较小、通用性广的高精度BTB测试导通模组。

本实用新型的技术方案如下：一种高精度BTB测试导通模组，包括：销钉组件和结构相同的两测试组件，所述一测试组件与销钉组件一侧活动连接，所述另一测试组件与销钉组件另一侧活动连接；

其中，所述各测试组件分别包括：底座、以及若干测试弹片，所述底座上设置有若干通孔槽，所述各通孔槽中分别贯穿插入有一测试弹片。

采用上述技术方案，所述的高精度BTB测试导通模组中，所述销钉组件为结构相同的两等距销钉。

采用上述各个技术方案，所述的高精度BTB测试导通模组中，所述测试弹片下部比上部要窄。

采用上述各个技术方案，所述的高精度BTB测试导通模组中，所述底座底部设置有用于保护测试弹片下部的保护凸台，所述各测试弹片下部分别贯穿保护凸台。

采用上述各个技术方案，所述的高精度BTB测试导通模组中，所述保护凸台一侧设置有大防呆定位柱，所述保护凸台另一侧设置有小防呆定位柱。

采用上述各个技术方案，所述的高精度BTB测试导通模组中，所述底座一侧设置有便于注塑成型的工艺槽。

采用上述各个技术方案，本实用新型通过将测试模组一分为二，设置为左右两侧的测试组件，两测试组件通过两等距销钉活动连接，根据不同测试产品的尺寸，调节两测试组件的距离，并在测试组件上设置一排等距离的通孔槽，在通孔槽中插入测试弹片，测试弹片底端与待测试产品连接，测试弹片顶端与PCBA板连接，根据不同待测试产品的引脚数，插入对应数量的测试弹片，完成测试，通用性较广，结构简单，防呆设计，提高效率。

附图说明

图1为本实用新型的仰视装配结构示意图；

图2为本实用新型的测试弹片示意图；

图3为本实用新型的俯视装配结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例，对本实用新型进行详细说明。

本实施例提供了一种高精度BTB测试导通模组，包括：销钉组件和结构相同的两测试组件，所述一测试组件与销钉组件一侧活动连接，所述另一测试组件与销钉组件另一侧活动连接；

其中，所述各测试组件分别包括：底座21、以及若干测试弹片22，所述底座21上设置有若干通孔槽211，所述各通孔槽211中分别贯穿插入有一测试弹片22。