[实用新型]一种半自动的芯片检测设备

说明书

本实用新型涉及芯片检测技术领域，一种半自动的芯片检测设备，包括有支架以及设置在支架上方的检测组件，所述支架上设置能够插接卡片的导槽，卡片能够沿导槽滑动至检测组件的下方，所述检测组件包括有朝下设置的检测头以及驱动检测头沿竖向运动的驱动组件，本实用新型的检测组件包括有检测头以及能够驱动检测头沿竖向运动的驱动组件，卡片沿导槽滑动至检测头的下方，检测头朝下运动接触卡片上的芯片以实现检测头与芯片接触导通，避免检测头与芯片产生摩擦而划伤芯片或损伤检测头，增加检测头的使用寿命。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，特别涉及一种半自动的芯片检测设备。

背景技术

目前市场上常见的芯片检测设备通常采用插拔式操作，芯片表面与检测头或检测板产生相对运动以及摩擦作用，其缺点有二，其一是划伤芯片表面，造成芯片的外观质量问题；其二是多次冲击检测头或检测板，影响检测头或检测板检测的准确度，也影响检测头或检测板的使用寿命。

实用新型内容

本实用新型为解决上述问题所采用的技术方案是提供一种半自动的芯片检测设备，包括有支架以及设置在支架上方的检测组件，所述支架上设置能够插接卡片的导槽，所述检测组件包括有能够沿竖向朝下运动以地接卡片的检测头以及驱动检测头运动的驱动组件。

作为上述方案的进一步改进，所述支架上设置有能够控制驱动组件启闭的开关，卡片沿导槽滑动至芯片与检测头相对应的位置并打开开关，驱动组件驱使检测头朝下运动抵接卡片。

作为上述方案的进一步改进，所述导槽的后端设有阻挡块，卡片抵接阻挡块时，卡片上的芯片与检测头相对应。

作为上述方案的进一步改进，所述检测组件还包括检测基座以及支撑板，所述支撑板可在检测基座上左右移动，支撑板上设有若干个与检测头相配合的插孔。

作为上述方案的进一步改进，所述检测基座上设有容支撑板左右移动的滑槽，检测基座的左右侧还设置有抵接支撑板的调整螺栓。

作为上述方案的进一步改进，所述支架上还设置有横向的放置槽，放置槽的两侧设有至少两个定位销，条带形原料的两侧设有与该定位销相配合的定位孔。

作为上述方案的进一步改进，还包括有用于控制驱动组件启闭的启动按钮。

作为上述方案的进一步改进，所述支架上还设置有感应检测组件。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型的检测组件包括有检测头以及能够驱动检测头沿竖向运动的驱动组件，卡片沿导槽滑动至检测头的下方，检测头朝下运动接触卡片上的芯片以实现检测头与芯片接触导通，避免检测头与芯片产生摩擦而划伤芯片或损伤检测头，增加检测头的使用寿命；其次，支架上设置有能够控制驱动组件启闭的开关，卡片沿导槽滑动至与检测头相对应的下方并触发开关，驱动组件驱使检测头朝下运动抵接芯片，无需人工启动，实现自动检测，降低人工劳动强度，提升检测效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单说明。显然，所描述的附图只是本实用新型的一部分实施例，而不是全部实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得的其他设计方案和附图：

图1是本实用新型的芯片检测设备的结构示意图；

图2是本实用新型的芯片检测设备的部分结构示意图；

图3是本实用新型的检测组件的结构示意图。

具体实施方式