[实用新型]一种微米级ID图像识别的系统及用于ID图像识别的装置

说明书

本实用新型提供一种微米级ID图像识别的系统及用于ID图像识别的装置，其中所述系统包括摄像头、高倍显微镜、上位机，所述摄像头配置为，观察待测物品的整体状况，以确定所述待测物品的数量和位置关系，所述待测物品包括一个或多个；所述高倍显微镜配置为，调整视场并依次识别所述待测物品的ID图像；所述上位机与所述摄像头和所述高倍显微镜分别相连，并配置为，控制所述摄像头和所述高倍显微镜，并依次记录相应的ID信息。根据本实用新型的技术方案，可以代替人工用显微镜肉眼识别和记录芯片ID的工作，实现自动识别和记录，降低了对操作人员的技术要求，也大大提高了识别和记录的准确度，提高了工作效率。

技术领域

本实用新型总体涉及图像识别领域，更具体地，涉及一种微米级ID图像识别的技术。

背景技术

芯片上的身份识别号ID尺寸比较小，例如激光器芯片，甚至在微米um 级别，例如附图14所示，图14中的ID号5A的单个数字或者字母尺寸只有十几微米，甚至有些芯片上的ID号只有几微米，所有这类ID肉眼根本无法直接看清楚，必须在显微镜下才能观察，放大倍数在200～400倍。而实际工作中，经常需要精确并且大批量的识别芯片上面的ID号。

在目前的实际工作中，通常将需要识别的激光器芯片放置到显微镜的载物台上，调整物镜的视场和显微镜的焦距，使得ID完全进入视场并能够清晰的识别，用肉眼在目镜上观察，人工看清楚后，用笔记录下来。识别效率非常低下，并且会使得人眼非常疲劳，并且会有不少误判和记录错误的情况，并且不能进行批量化的自动生产。且显微镜的视场非常小，只能容纳一个芯片的ID，由于芯片位置和ID位置的不确定性，造成在显微镜视场下很不容易找到其他ID的位置。

从ID的自身内容来看，这些字母或者数字不是文本文件，而是一个图形，因此不能直接读取，需要用图像识别技术判定。且ID的图形非常不规范，每个厂家或者批次所使用的字符种类、字体类型和大小等不一定相同，通常的图像识别技术在这种情况下难以做到准确且完整的识别ID。还有不同厂家的芯片包装盒状态、每个待检测芯片在包装盒中的位置以及ID在芯片上所处的位置不完全相同，也同样造成通常的图像识别技术难以做到准确且完整的识别ID。

昂贵的自动光学检测AOI，Automatic Optic Inspection的简称，常用于PCB 的焊接检测，是一类基于光学原理来对生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。当自动检测时，机器通过摄像头自动扫描待检测物品，采集出待检测物品图像，测试结果与数据库中的合格的参数进行比较，经过图像处理，凡是与标准参数不符合的，均判定为不合格，并通过显示器或自动标志出来，供生产人员参考和使用。该设备需要确定性的标准，通过对比待测物品与标准品的对比，检测出不合格品。而我们的需求则没有标准形态，也就是无法提供确定性的标准，造成AOI相类似的检测设备无法满足我们的不确定性检测需求。

实用新型内容

针对以上问题，本实用新型的目的在于克服现有技术中无法准确和大批量识别芯片上微米级ID图像的缺陷，提供一种微米级ID图像识别的系统及用于ID图像识别的装置。

根据本实用新型的第一方面，提供一种微米级ID图像识别的系统，包括摄像头、高倍显微镜、上位机，其中，所述摄像头配置为，观察待测物品的整体状况，以确定所述待测物品的数量和位置关系，所述待测物品包括一个或多个；所述高倍显微镜配置为，调整视场并依次识别所述待测物品的ID图像；所述上位机与所述摄像头和所述高倍显微镜分别相连，并配置为，控制所述摄像头和所述高倍显微镜，并依次记录相应的ID信息。

可选地，所述摄像头为低倍大视场摄像头，并配置为，进行视场调整，以清楚的观察到所述待测物品的整体状况。

可选地，所述高倍显微镜还配置为，通过与所述待测物品在在水平方向上的相对移动，直至找到所述待测物品的ID图像，以使所述待测物品的ID 图像完全进入所述高倍显微镜的视场；在纵轴方向上微调位置，使所述高倍显微镜的焦点落在所述待测物品的ID图像上，以便完整并清晰的显示所述待测物品的ID图像。