[实用新型]一种带限位结构的芯片测试装置

说明书

本实用新型公开了一种带限位结构的芯片测试装置，包括设置在顶板的下端的芯片测试探针，所述芯片测试探针的上端侧壁与顶板的下端侧壁固定连接，所述顶板的下方设有底板，所述顶板与底板之间通过支撑板固定连接，所述芯片测试探针的下方设有测试板，所述测试板的上端侧壁上设有放置槽，所述底板上设有升降机构，所述测试板上设有限位机构。本实用新型具有限位机构，可调节控制芯片的位置，使得芯片测试探针可探到芯片中不同的测试点，结构简单，操作简便，可调节测试板的高度，从而调节待测试的芯片的高度，便于对芯片进行测试。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试设备技术领域，尤其涉及一种带限位结构的芯片测试装置。

背景技术

芯片是一种将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路，集成电路芯片的测试分类包括：晶圆测试、芯片测试和封装测试，芯片测试是在晶圆经过切割、减薄工序，成为一片片独立的片之后的测试，其一般是将芯片放在测试平台上，用探针探到芯片中事先确定的测试点，探针上可以通过直流电流和交流信号，可以对其进行各种电气参数测试。

现有的芯片测试装置不具备限位机构，且测试板的高度一般是固定的，从而不方便调节控制芯片的位置，不便于对芯片进行测试，为此我们提出了一种带限位结构的芯片测试装置，用来解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种带限位结构的芯片测试装置，其具有限位机构，可调节控制芯片的位置，使得芯片测试探针可探到芯片中不同的测试点，结构简单，操作简便，可调节测试板的高度，从而调节待测试的芯片的高度，便于对芯片进行测试。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种带限位结构的芯片测试装置，包括设置在顶板的下端的芯片测试探针，所述芯片测试探针的上端侧壁与顶板的下端侧壁固定连接，所述顶板的下方设有底板，所述顶板与底板之间通过支撑板固定连接，所述芯片测试探针的下方设有测试板，所述测试板的上端侧壁上设有放置槽，所述底板上设有升降机构，所述测试板上设有限位机构。

优选地，所述升降机构包括设置在底板的上端侧壁上的装置槽，所述装置槽的内壁上固定连接有电动推杆，所述电动推杆的输出端与测试板的下端侧壁固定连接。

优选地，所述测试板靠近支撑板一端的侧壁上固定连接有T形滑块，所述支撑板的侧壁上设有与T形滑块位置相对应的T形滑槽，所述T形滑块与T形滑槽的内壁滑动连接，所述测试板的侧壁与支撑板的侧壁滑动连接。

优选地，所述限位机构包括设置在测试板的两侧侧壁上的螺纹杆，两个所述螺纹杆均贯穿测试板的侧壁并与其螺纹连接，所两个所述螺纹杆位于放置槽内的一端均转动连接有限位板。

优选地，所述限位板的侧壁与放置槽的内壁滑动连接且相抵，所述限位板远离螺纹杆的一端固定连接有橡胶垫片。

优选地，两个所述螺纹杆远离放置槽的一端均固定连接有旋钮。

本实用新型具有以下有益效果：

1、通过设置限位机构，通过手动旋转旋钮，旋钮可带动螺纹杆转动，因螺纹杆与测试板螺纹连接，所以螺纹杆可在测试板上左右移动，从而带动限位板在放置槽内左右移动，从而带动待测试的芯片在放置槽内左右移动，从而使得芯片测试探针可探到待测试的芯片中其他的测试点，结构简单，操作简便，橡胶垫片具有弹性，可避免在对芯片进行限位调节时损坏芯片；

2、通过设置升降机构，将待测试的芯片放置与测试板上的放置槽中，此时启动电动推杆，电动推杆可带动测试板向上移动，在此过程中，T形滑块沿T形滑槽滑动，使得测试板滑动的更加平稳，当测试板与芯片测试探针的间距适合测试时，停止电动推杆，芯片测试探针便可对待测试的芯片进行检测，可调节测试板的高度，从而调节待测试的芯片的高度，便于对芯片进行测试。

附图说明